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原位MEMS 氣體/液體樣品桿系列 參考價：面議
澤攸科技原位MEMS氣體/液體樣品桿系列是一種基于MEMS芯片技術的創新型透射電鏡（TEM）樣品桿，專為在氣體或液體環境中進行原位測量而設計。該系列產品通過在標...
多樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡多樣品桿，可一次裝載3個標準TEM樣品，提高測試效率，減少頻繁插拔樣品桿對測角臺的磨損。
原位MEMS 加熱/電學樣品桿系列 參考價：面議
原位MEMS加熱/電學樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設計的實驗工具，旨在滿足納米材料、能源科學及電子器件研究領域對原位動態表征的需求。該系列產品基...
TEM-STM樣品桿系列 參考價：面議
澤攸科技TEM-STM樣品桿系列是一種基于掃描探針技術的創新性原位透射電鏡（TEM）測量工具，為納米科學研究提供了全新的視角和手段。該系列產品將掃描探針控制單元...
三維重構樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡三維重構樣品桿，基于樣品端超薄設計，滿足大傾角傾轉和360度旋轉測試需求。
原位冷凍樣品桿系列 參考價：面議
原位冷凍樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設計的實驗工具，旨在滿足材料科學、生命科學等領域對低溫環境下樣品表征的需求。該系列產品基于標準外形的透射電鏡...
原位多場耦合樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位多場耦合樣品桿，結合TEM+STM+MEMS原位技術，通過更換不同類型的原位芯片及探針，在透射電鏡中實現光、電、力、熱多種原位...
原位加熱/電學樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學樣品桿，基于MEMS原位芯片技術，通過更換多種類型的加熱芯片或電學芯片，在透射電鏡中實現對樣品加熱或加電的原位功能。
原位光學樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位光學樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術，樣品桿內集成光纖，桿末端可外接光源或光譜儀，實現透射電鏡內的光電測量或光譜學表征研究...
原位力學樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位力學樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術，集成力測量功能，對樣品進行壓縮/拉伸過程可實時輸出力-位移曲線，支持力-電同時測量。
原位電學測量樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位測量系統源于中科院物理研究所SF1組（20世紀90年代），圍繞原位電學測量樣品桿，澤攸科技不斷進行產品迭代及功能拓展，已推出電...
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