SEM低溫/冷凍真空傳輸系統 參考價：面議
澤攸科技的SEM低溫/冷凍真空傳輸系統是一款專為掃描電子顯微鏡（SEM）設計的先進設備，旨在滿足在極低溫度條件下對樣品進行觀察和分析的需求，同時確保樣品能夠保持...
SEM納米力測量系統 參考價：面議
PicoFemto NI-100掃描電鏡納米力學樣品臺是澤攸科技推出的一款專注于材料變形行為和微觀失效機制研究的科研設備。該系統作為一款集成化的解決方案，能夠精...
PicoFemto掃描電鏡原位拉伸臺 參考價：面議
PicoFemto掃描電鏡原位拉伸臺集成了力學拉伸模塊以及高溫環境模塊，可以實現在掃描電鏡中對樣品原位加熱的同時進行拉伸實驗。本產品采用新一代的高溫拉伸方案，加...
原位MEMS 氣體/液體樣品桿系列 參考價：面議
澤攸科技原位MEMS氣體/液體樣品桿系列是一種基于MEMS芯片技術的創新型透射電鏡（TEM）樣品桿，專為在氣體或液體環境中進行原位測量而設計。該系列產品通過在標...
冷凍樣品臺 參考價：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡冷凍樣品臺基于液氮低溫制冷技術，溫度范圍：-160℃至80℃。
液體樣品臺 參考價：面議
PicoFemto系列掃描電鏡液體樣品臺，基于MEMS芯片封裝及電學芯片技術，實現掃描電鏡內原位液體-電化學實驗。
原位加熱臺 參考價：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡原位加熱臺基于MEMS加熱芯片技術，溫度范圍：室溫至1200攝氏度。
納米探針臺 參考價：面議
SEM納米探針臺由澤攸科技研發，是一款具有高性能的科研設備，特別適用于需要高精度三維空間定位的研究領域。這款探針臺不僅具備小尺寸大行程、高精度以及易操作等優點，...
納米力學臺 參考價：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡納米力學臺是動態觀察和分析納米材料力學行為的重要工具。
加熱拉伸臺 參考價：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡加熱拉伸臺是動態觀察和分析材料微觀變形形貌及斷裂的重要工具。
多樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡多樣品桿，可一次裝載3個標準TEM樣品，提高測試效率，減少頻繁插拔樣品桿對測角臺的磨損。
原位MEMS 加熱/電學樣品桿系列 參考價：面議
原位MEMS加熱/電學樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設計的實驗工具，旨在滿足納米材料、能源科學及電子器件研究領域對原位動態表征的需求。該系列產品基...
三維重構樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡三維重構樣品桿，基于樣品端超薄設計，滿足大傾角傾轉和360度旋轉測試需求。
原位冷凍樣品桿系列 參考價：面議
原位冷凍樣品桿系列是一款專為透射電子顯微鏡（TEM）設計的實驗工具，旨在滿足材料科學、生命科學等領域對低溫環境下樣品表征的需求。該系列產品基于標準外形的透射電鏡...
原位多場耦合樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位多場耦合樣品桿，結合TEM+STM+MEMS原位技術，通過更換不同類型的原位芯片及探針，在透射電鏡中實現光、電、力、熱多種原位...
原位加熱/電學樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位加熱/電學樣品桿，基于MEMS原位芯片技術，通過更換多種類型的加熱芯片或電學芯片，在透射電鏡中實現對樣品加熱或加電的原位功能。
原位光學樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位光學樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術，樣品桿內集成光纖，桿末端可外接光源或光譜儀，實現透射電鏡內的光電測量或光譜學表征研究...
原位力學樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位力學樣品桿，基于TEM-STM樣品桿技術，集成力測量功能，對樣品進行壓縮/拉伸過程可實時輸出力-位移曲線，支持力-電同時測量。
原位電學測量樣品桿 參考價：面議
PicoFemto系列透射電鏡原位測量系統源于中科院物理研究所SF1組（20世紀90年代），圍繞原位電學測量樣品桿，澤攸科技不斷進行產品迭代及功能拓展，已推出電...
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