目錄:武漢頤光科技有限公司>>橢偏儀系列>>專(zhuān)用型橢偏儀>> 橢偏檢測(cè)機(jī)臺(tái)
| 參考價(jià) | 面議 |
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更新時(shí)間：2025-04-27 16:02:43瀏覽次數(shù)：1764評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,航空航天,電氣,綜合 |
一、產(chǎn)品概述
頤光科技橢偏檢測(cè)機(jī)臺(tái)作為一種小型橢偏集成機(jī)臺(tái)，通過(guò)整體高度模塊化，電、氣路集成技術(shù)，實(shí)現(xiàn)不同橢偏測(cè)量模塊在線/離線式整體橢偏測(cè)量解決方案。
二、產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 支持實(shí)驗(yàn)室研究整體橢偏集成控制測(cè)量技術(shù)；
■ 支持產(chǎn)線大基片離線自定義多點(diǎn)掃描測(cè)量并輸出報(bào)告；
■ 支持多橢偏方案，多組合集成
■ 支持測(cè)頭模塊以及樣件機(jī)臺(tái)定制化
三、應(yīng)用場(chǎng)景
應(yīng)用于科學(xué)研究中各種各向同性，異性薄膜材料的膜厚、光學(xué)常數(shù)以及一維、二維納米光柵的結(jié)構(gòu)表征；工業(yè)領(lǐng)域新型光電器件行業(yè)所涉及的薄膜（配向膜、光刻膠、ITO、發(fā)光薄膜、封裝薄膜）全片離線化快速掃描測(cè)量。
參考設(shè)計(jì)方案
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| 高度整合橢偏技術(shù)方案 |
技術(shù)參數(shù)
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