菲希爾FISCHERSCOPE XDV-μ鍍層厚度測量儀

        X 射線熒光測試儀，配有多毛細孔 X 射線光學系統，可自動測量和分析微小部件及結構上鍍層厚度和成分。

FISCHERSCOPE XDV-u鍍層厚度測量儀特點

• 優化的微區分析測試儀器
• 根據X射線光學系統，可以對100 μm或更小的結構進行分析
• *的能量強度，從而實現出色的精度
• 即使對于薄鍍層，測量的不確定度也有可能做到 < 1 nm
• 只適用于平面的或是接近平面的樣品
• 底部C型開槽的大容量測量艙
• 通過快速、可編程的 XY 工作臺進行自動測量

FISCHER XDV-u鍍層厚度測量儀典型應用領域

• 測量印刷線路板、引線框架和芯片上的鍍層系統
• 測量細小部件和細電線上的鍍層系統
• 分析微小結構和微小部件的材料成分

X射線測厚儀原理

　　XRAY測厚儀原理是根據XRAY穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，根據該X射線的能量值，確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號，經過前置放大器放大，再由測厚儀操作系統轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。

　　X射線測厚儀適用范圍

　　XRAY測厚儀適用于生產鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產品的企業，可以與軋機配套，應用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中，XRAY測厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機生產過程中對板材厚度進行自動控制。

　　菲希爾電解測厚儀 - 用于庫侖電量分析的涂層厚度測量儀器。