FISCHERSCOPE XAN 252 X射線熒光測量儀概述：

        高性能X射線熒光測量儀，配有非常*的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

FISCHERSCOPE XAN 252 X射線熒光測量儀特點：

• 高性能機型，具有強大的綜合測量能力
• 配有4 個電動調節的準直器和6個電動調節的基本慮片
• 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復雜的多元素分析
• 由下*的測量方向，可以非常簡便地實現樣品定位  

典型應用領域：

• 對電子和半導體行業中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
• 對有害物質進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量
• 在珠寶和手表業，以及在金屬精煉領域，對合金進行高精度的分析
• 用于高校研究和工業研發領域 

　　X射線測厚儀原理

　　XRAY測厚儀原理是根據XRAY穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，根據該X射線的能量值，確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號，經過前置放大器放大，再由測厚儀操作系統轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。

　　X射線測厚儀適用范圍

　　XRAY測厚儀適用于生產鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產品的企業，可以與軋機配套，應用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中，XRAY測厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機生產過程中對板材厚度進行自動控制。

　　菲希爾電解測厚儀 - 用于庫侖電量分析的涂層厚度測量儀器。