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當(dāng)前位置：> 供求商機(jī)> T450系列-膜厚 金屬多元素分析儀
膜厚 金屬多元素分析儀
ROHS檢測(cè)儀 R-350臺(tái)式X熒光光譜儀 能量色散X射線 鍍層測(cè)厚儀
T450系列專精性能膜厚儀是佳譜儀器匠心打造的細(xì)膩品質(zhì)，采用微聚焦增強(qiáng)型射線管和數(shù)字多道脈沖信號(hào)處理技術(shù)，同時(shí)搭載增強(qiáng)FP算法軟件與變焦裝置，在檢測(cè)各大小平面、異形件、多層合金及電鍍液時(shí)更加精準(zhǔn)、穩(wěn)定、高效。
l微米級(jí)移動(dòng)精度 | l變焦對(duì)焦一體技術(shù) |
l無(wú)需標(biāo)樣一鍵測(cè)試 | l大面積Si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器 |
l微聚焦高集成垂直光路交換裝置 | |
應(yīng)用領(lǐng)域
儀器性能
微米級(jí)移動(dòng)精度 | 高精密移動(dòng)平臺(tái)，對(duì)多點(diǎn)檢測(cè)時(shí)快速精準(zhǔn)定位 |
微聚焦高集成垂直光路交換裝置 | 前沿的光路聚焦系統(tǒng)設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)對(duì)極小測(cè)量點(diǎn)高效、精準(zhǔn)、穩(wěn)定檢測(cè) |
變焦對(duì)焦一體技術(shù) | 可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),凹槽深度范圍可達(dá)35mm |
大面積Si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器 | 行業(yè)更多選擇的高性能高分辨率探測(cè)器，可大大提升測(cè)量精度與穩(wěn)定性 |
使用成本低 | 運(yùn)行及維護(hù)成本低、無(wú)易損易耗品，對(duì)使用環(huán)境相對(duì)要求低 |
使用壽命超長(zhǎng) | 智能高壓控制搭配散熱系統(tǒng),大大提升儀器使用壽命和穩(wěn)定性 |
儀器參數(shù)
型號(hào) | T450 | T450S |
涂鍍層分析 | Li(3)-U(92) | |
算法 | 增強(qiáng)型FP算法 | |
分析軟件 | 可同時(shí)分析15層鍍層，24種元素 | |
射線方向 | 從下往上 | |
X射線發(fā)生裝置 | 微聚焦增強(qiáng)型射線管 | |
接收器 | 大面積si-pin半導(dǎo)體探測(cè)器 | SDD探測(cè)器 |
多道分析器 | DPP數(shù)字多道分析技術(shù) | |
高壓 | 0-50KV智能程控高壓系統(tǒng) | |
準(zhǔn)直器 | 標(biāo)配Φ0.3mm（Φ0.3mm/Φ0.2mm/Φ0.5mm三選一） | |
樣品觀察 | 工業(yè) CCD 高清攝像頭 | |
放大倍數(shù) | 光學(xué)放大30倍 | |
光斑擴(kuò)散度 | <10% | |
變焦裝置 | 標(biāo)配（可測(cè)凹凸異形件） | |
移動(dòng)平臺(tái) | 標(biāo)配XY移動(dòng)平臺(tái) | |
外觀尺寸 | 555*573*573mm | |
腔體尺寸 | 410*478*245mm | |
檢測(cè)數(shù)據(jù)
ROHS檢測(cè)儀 R-350臺(tái)式X熒光光譜儀 能量色散X射線 鍍層測(cè)厚儀
膜厚 金屬多元素分析儀
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