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當前位置：佳譜儀器（蘇州）有限公司>>鍍層測厚儀系列產品>>金屬多元素分析儀>> 鍍層測厚T-450專精性能膜厚儀 金屬多元素分析 半導體探測
| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工,地礦,建材/家具,電子/電池,綜合 |
專精性能膜厚儀 金屬多元素分析 半導體探測
T450系列專精性能膜厚儀是佳譜儀器匠心打造的細膩品質，采用微聚焦增強型射線管和數字多道脈沖信號處理技術，同時搭載增強FP算法軟件與變焦裝置，在檢測各大小平面、異形件、多層合金及電鍍液時更加精準、穩定、高效。
l微米級移動精度 | l變焦對焦一體技術 |
l無需標樣一鍵測試 | l大面積Si-pin半導體探測器 |
l微聚焦高集成垂直光路交換裝置 | |
應用領域
儀器性能
微米級移動精度 | 高精密移動平臺，對多點檢測時快速精準定位 |
微聚焦高集成垂直光路交換裝置 | 前沿的光路聚焦系統設計,實現對極小測量點高效、精準、穩定檢測 |
變焦對焦一體技術 | 可對各種異形凹槽件進行無損檢測,凹槽深度范圍可達35mm |
大面積Si-pin半導體探測器 | 行業更多選擇的高性能高分辨率探測器，可大大提升測量精度與穩定性 |
使用成本低 | 運行及維護成本低、無易損易耗品，對使用環境相對要求低 |
使用壽命超長 | 智能高壓控制搭配散熱系統,大大提升儀器使用壽命和穩定性 |
儀器參數
型號 | T450 | T450S |
涂鍍層分析 | Li(3)-U(92) | |
算法 | 增強型FP算法 | |
分析軟件 | 可同時分析15層鍍層，24種元素 | |
射線方向 | 從下往上 | |
X射線發生裝置 | 微聚焦增強型射線管 | |
接收器 | 大面積si-pin半導體探測器 | SDD探測器 |
多道分析器 | DPP數字多道分析技術 | |
高壓 | 0-50KV智能程控高壓系統 | |
準直器 | 標配Φ0.3mm（Φ0.3mm/Φ0.2mm/Φ0.5mm三選一） | |
樣品觀察 | 工業 CCD 高清攝像頭 | |
放大倍數 | 光學放大30倍 | |
光斑擴散度 | <10% | |
變焦裝置 | 標配（可測凹凸異形件） | |
移動平臺 | 標配XY移動平臺 | |
外觀尺寸 | 555*573*573mm | |
腔體尺寸 | 410*478*245mm | |
檢測數據
專精性能膜厚儀 金屬多元素分析 半導體探測
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