X熒光金屬多元素檢測儀 EDX 貴金屬分析儀

儀器性能及配置

分析范圍：1ppm-99.99 %

精度：RSD≤0.05% Ag≥99.9%

測試樣品的物理狀態(tài)：固體、粉末、液體

感興趣元素貴金屬：Au、Ag、Pt、Pd、Ru、Rh、W、Os、etc.

基本金屬：Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Cd、Sn、Pb、etc.

技術參數

高壓電源：0-50KV

光管電壓：5-50KV

光管管流：0-1000μA

測試時間：30-100s

探測器：Sipin

分辨率：144eV±5

多道分析器：4096 道址多道分析器 JPSpec-DPP

外觀尺寸：550*410*320mm

樣品腔尺寸：439*300*150mm

重量：45kg

濾光片：可選擇多種定制切換

移動平臺：各邊移動距離32mm

應用和示例

測試貴金屬Au、Pt. Ag. Pd精準的分析

核查廢舊金屬中的金含量

對雜質材料進行辨別

辨別未知金屬

應用領域

珠寶制造

回收行業(yè)

典當行/精煉行業(yè)

質量技術監(jiān)督局

現金黃金兌換

零售行業(yè)

PM-350 Plus分析珠寶首飾中金銀元素表現精確性

     X熒光貴金屬檢測儀 EDX 在測量金、銀、鉑、鈀等貴金屬含量上功能獨到。采用25mm2大面積鈹窗探測器,可準確無誤地分析出黃金,鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量, 長效穩(wěn)定X光管半導體硅片電制冷系統(tǒng),摒棄液氮制冷。信噪比增強器(SNE),大幅提高光譜儀測量的穩(wěn)定性和度。金純度檢測儀白銀分析儀能量色散X熒光光譜儀,X射線熒光光譜儀xSORT是具有很高速元素分析能力的手持式X熒光光譜儀,可滿足多種金屬基體材料以及土壤,塑膠,礦石等多種復雜材料的光譜化學成分分析需要。目前使用XRF分析儀對貴金屬進行化學成分分析及純度成色判斷已成為一種廣泛應用、極受歡迎并且具有國家標準的支持且性能可靠的方法。與火花試金法和化學試劑測試法相比，使用XRF對貴金屬進行分析是一種更迅速經濟的多元素檢測方法。

X熒光金屬多元素檢測儀 EDX 貴金屬分析儀