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日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 K100 系列具有更長的行程和更高的負載，使其*適合于安裝板檢查。間距從 1mm 到 2.54mm 不等，對于...
日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 K075 與標準型相比，該彈簧探針系列具有更長的行程和更高的負載使其*適合于安裝板檢查。間距從 1mm 到 2...
日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型 KITA K050 是介于微型化與高負載之間的 平衡型彈簧探針以 0.50mm針徑 和 500-800gf接觸...
日本KITA半導體PCB 檢查的彈簧探針高負荷型K039與標準型相比，該彈簧探針系列具有更長的行程和更高的負載.使其適合于安裝板檢查。間距從 1mm 到 2.5...
日本KITA 半導體PCB 檢查的彈簧探針標準型K-026-2CAK2系列是KITA公司針對PCB（印刷電路板）測試（如ICT、FCT）設計的標準彈簧探針（Te...
日本KITA半導體器件彈簧探針高頻KPS040-004CA適用于0.5mm和0.8mm間距的高頻產品。 1.5 毫米（使用時為 1.1 毫米）的短長度可通過短路...
日本KITA半導體器件彈簧探針大電流、高溫是彈簧探頭耐高溫200°C，在高溫、大電流測試環境中表現出色。其產品尤其擅長應對大電流和高溫環境，適用于半導...
日本KITA半導體器件彈簧探針非磁性是該彈簧探頭由非磁性材料制成，可用于必須消除磁性影響的測試環境。適用于磁敏感環境（如MRI設備、高精度傳感器測試）或避免磁化...
日本KITA半導體器件彈簧探針開爾文接觸（4 端子連接）適用于高精度測試中使用的 4 端測量的彈簧探頭。使兩個探針與半導體器件的一個端子接觸。探頭間距有 0.3...
日本KITA半導體器件彈簧探針細間距（0.15~0.25mm間距）應用中扮演著關鍵角色.主要用于高密度互連測試（如晶圓測試、芯片測試、PCB測試等）彈簧探針內置...
日本KITA半導體器件彈簧探針標準間距0.3 mm至 1.0mm除了常規的鍍金柱塞外，我們還針對每種主要長度提供各種高度通用。以“MARATHON"系列為中心，...
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