目錄:山東霍爾德電子科技有限公司>>物理實(shí)驗(yàn)儀器>>介電常數(shù)測(cè)試儀>> HD-JD1薄膜介質(zhì)損耗儀
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更新時(shí)間：2025-06-18 13:45:54瀏覽次數(shù)：37評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 鋼鐵/金屬 |
儀器簡(jiǎn)介:
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)。通過測(cè)定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。
薄膜介質(zhì)損耗儀的用途:
薄膜介質(zhì)損耗儀用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無機(jī)金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
參考標(biāo)準(zhǔn):
u GB/T 1409-2006 測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法；
u GB/T 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法；
u ASTM-D150-介電常數(shù)測(cè)試方法；
u GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測(cè)試方法。
技術(shù)參數(shù)
| 1 | 信號(hào)源 | DDS數(shù)字合成 10KHZ-70MHz |
| 2 | 采樣精度 | 11BIT |
| 3 | 測(cè)量范圍 | 1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程 |
| 4 | 分辨率 | 0.1 |
| 5 | 測(cè)量工作誤差 | <5% |
| 6 | 電感測(cè)量范圍 | 分辨率0.1nH |
| 7 | 電感測(cè)量誤差 | <3% |
| 8 | 調(diào)諧電容 | 主電容30-540pF |
| 9 | 電容直接測(cè)量范圍 | 1pF～2.5uF |
| 10 | 調(diào)諧電容誤差 | ±1 pF或<1% 0.1pF |
| 11 | 諧振點(diǎn)搜索 | 自動(dòng)掃描 |
| 12 | 合格預(yù)置范圍 | 5-1000聲光提示 |
| 13 | LCD顯示參數(shù) | F，L，C，Q，Lt，Ct等 |
| 14 | 介質(zhì)損耗系數(shù)精度 | 萬分之一 |
| 15 | 介電常數(shù)精度 | 千分之一 |
| 16 | 材料測(cè)試厚度 | 0.1mm-10mm |
| 17 | 技術(shù) | 儀器自動(dòng)扣除殘余電感和測(cè)試引線電感。大幅提高測(cè)量精度。大電容值直接測(cè)量顯示。數(shù)顯微測(cè)量裝置，直接讀值。 |
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