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1、動態(tài)原位實驗

對自然狀態(tài)下的材料進行原位研究：具有環(huán)境模式的高分辨場發(fā)射掃描電鏡 (ESEM)。原位分析的溫度范圍為 -165°C 至 1400°C，搭配使用各種冷臺和熱臺。

2、減少樣品制備時間

低真空和ESEM環(huán)境掃描電鏡功能可對非導電和/或含水樣品進行無電荷/無脫水成像和分析。

3、樣品觀察

在各種操作模式下均可實現(xiàn) SE 和 BSE 同時成像。

4、優(yōu)異的分析能力

優(yōu)異的分析能力來自可以最多同時使用 3 個 EDS 檢測器的腔室，并具有對稱180°的 EDS 接口、WDS接口以及和EDS幾何共面的EBSD接口。對非導電樣品的出色分析：在低真空條件下，Quattro ESEM高溫掃描電鏡的減小電子束散射技術(shù)可實現(xiàn)準確的 EDS 和 EBSD。

5、靈活且精確

靈活且精確的優(yōu)中心樣品臺，傾斜范圍達 105°，可從各個角度觀察樣品。

6、易于使用的軟件及創(chuàng)新性選項

直觀易用且?guī)в杏脩糁改虾统废δ艿能浖Ｊ褂酶俚氖髽它c擊，更快速地完成工作。新的創(chuàng)新選項，包括可伸縮 RGB 陰極發(fā)光 (CL) 檢測器、1100°C 高真空加熱載物臺和 AutoScript 4 軟件（基于 Python 的API腳本工具）。