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微型輪廓儀（光學檢測）
KOSAKA LAB ET 200A微型輪廓儀（光學檢測）是株式會社小坂研究所的高精度微細形狀測定機，基于Windows系統，采用金剛石探針接觸測量，適用于多種...
型號： ET200A型所在地：日本參考價：面議更新時間：2024/9/5 16:29:06 對比

微型輪廓儀可靠性測試
超聲波掃描顯微鏡
PVA TePla SAM系列的超聲波掃描顯微鏡使用簡單，操作方便，是一款用于過程控制和質量保證，以及研究應用的無損檢測設備。SAM系列旗下各型號均統一由一個符...
型號： SAM 所在地：美國參考價：面議更新時間：2024/9/5 15:33:21 對比

半導體測量檢測
超聲掃描顯微鏡
PVA TePla 超聲掃描顯微鏡SAM Premium系列結合了聲學顯微鏡和光學顯微鏡。它使超聲掃描平臺與倒置光學顯微鏡或反射式光學顯微鏡相結合。SAM Pr...
型號： SAM Premi... 所在地：美國參考價：面議更新時間：2024/9/5 14:19:04 對比

半導體測量檢測
全自動超聲波掃描顯微鏡
PVA TePla SAM 全自動系列的全自動超聲波掃描顯微鏡能夠無損檢測空洞、空隙、氣泡、夾雜物和分層，是圓檢測、焊接界面檢查、MEMS檢測、以及各類電子封裝...
型號： SAM全自動所在地：美國參考價：面議更新時間：2024/8/13 16:08:52 對比

半導體測量檢測

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