場發射掃描電子顯微鏡 參考價：500000
JSM-IT810場發射掃描電子顯微鏡 JSM-IT810系列FE-SEM結合多功能性和高空間分辨率，實現了自動化操作。內置無需編碼的成像和EDS分析自動化功能...
熱場發射掃描電子顯微鏡 參考價：800000
JSM-IT710HR熱場發射掃描電子顯微鏡 清晰的可見性促進新發現！目前，除了納米級的分辨率和分析性能外，數據采集的處理能力也被認為是重要的。JSM-IT71...
日本電子掃描電鏡 參考價：面議
JSM-IT200 InTouchScope™ 日本電子掃描電鏡是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。
JEM-2100 時間分辨電子顯微鏡及相關附件 參考價：100000
JEM-2100 時間分辨電子顯微鏡及相關附件 產品：飛秒級時間分辨率電子顯微鏡及其相關附屬設備。
日本電子SEM 參考價：面議
JSM-IT510 InTouchScope™ 日本電子SEM不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中，用戶需...
日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析 參考價：100000
日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發的衍射光柵和高靈敏度Ｘ...
SightSKY Camera 光纖耦合CMOS相機 參考價：500000
SightSKY Camera 光纖耦合CMOS相機高靈敏度、低噪聲1900萬像素CMOS傳感器成像更清晰，可在低電子劑量下呈現樣品細節。 全局快門和高幀率（5...
日本電子IT210 掃描電鏡 參考價：600000
JSM-IT210 掃描電鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達驅動使得操作更安心和快速；而且因為裝有“Simple SEM"，只需選好微區就...
ROHS金屬成分分析儀 參考價：面議
ROHS金屬成分分析儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機，實現了...
日本電子JEOL截面拋光儀制樣設備 參考價：100000
日本電子JEOL截面拋光儀制樣設備為了滿足市場多樣化的需求，IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現了功能的多樣化。
SEM掃描電鏡 參考價：面議
掃描電鏡不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中，用戶需要重復執行相同的觀察操作，因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。...
日本電子臺式掃描電鏡 參考價：300000
JCM-7000 NeoScope™日本電子臺式掃描電鏡是以“誰都可以操作的SEM/EDS“為理念的臺式掃描電子顯微鏡， 標配Zeromag、Liv...
日本電子顯微鏡 參考價：面議
JSM-IT510 InTouchScope™ 日本電子顯微鏡不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中，用戶需...
鎢燈絲掃描電子顯微鏡 參考價：面議
JSM-IT200 InTouchScope™ 鎢燈絲掃描電子顯微鏡 是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。
掃描電鏡價格 參考價：面議
JSM-IT210 InTouchScope™ 掃描電鏡價格不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中，用戶需要...
掃描電鏡應用范圍 參考價：面議
掃描電鏡應用范圍不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中，用戶需要重復執行相同的觀察操作，因此快速完成這些操作有助于提高工...
掃描電鏡 參考價：面議
JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電鏡不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中，用戶需要重復...
核磁共振譜儀 參考價：面議
JNM-ECZR 系列 核磁共振譜儀是高度結合了最新數字技術和高頻技術研制的脈沖傅里葉變換核磁共振儀。電路的高度集成化提高了譜儀的可靠性、實現了機體的小型化，譜...
JNM-ECZL 系列 核磁共振譜儀 參考價：面議
JNM-ECZL 系列 核磁共振譜儀是配備先進數字和高頻技術的核磁共振波譜儀。高度集成的STS（智能收發系統）采用高速、高精度數字高頻控制電路，實現了譜儀的進一...
液氮液氦回收系統 參考價：面議
液氮液氦回收系統是一種能夠大幅抑制NMR超導磁體中液氦、液氮蒸發的裝置。 這有助于減少NMR設備管理中制冷劑的相關問題，例如在定期的制冷劑再填充中調整測量日程，...
JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀 參考價：面議
JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規定性、定量分析（FP法?檢量線法）、RoHS元素篩選功能等。 ...
雙束加工觀察系統 參考價：面議
隨著先進材料構造的微細化和制造過程的復雜化，形貌觀察、元素分析和晶體分析等的評估技術也對分辨率和精度有了更高的要求。為了滿足這些需求，JEOL推出新一代雙束加工...
JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統 參考價：面議
JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。 被加速的鎵離子束經聚焦照射樣品后，能對樣品表面進行SIM觀察 、研磨...
軟X射線分析譜儀 參考價：面議
軟X射線分析譜儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機，實現了高的能...
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