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| 應用領域 | 綜合 |
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PIE 校準器由同一團隊的成員設計和制造，該團隊創建了現在由 Fluke* 以 Altek* 標簽制造的校準器。自 1980 年代以來，我們一直在設計校準器，自 2001 年以來一直在為 PIE 設計校準器。改進包括簡單的“雙擊菜單"、帶傾斜支架和可選磁鐵帶的橡膠靴、帶有更大數字的背光顯示器、堅固的開關和用于快速更換電池的電池倉。
產品簡介
詳細介紹
美國 PIECAL 多功能校驗儀 PIE334 美國 PIECAL 多功能校驗儀 PIE334
想要更換過時的 Altek 校準器* 或 Transmation 校準器*？
PIE 校準器由同一團隊的成員設計和制造，該團隊創建了現在由 Fluke* 以 Altek* 標簽制造的校準器。自 1980 年代以來，我們一直在設計校準器，自 2001 年以來一直在為 PIE 設計校準器。改進包括簡單的“雙擊菜單"、帶傾斜支架和可選磁鐵帶的橡膠靴、帶有更大數字的背光顯示器、堅固的開關和用于快速更換電池的電池倉。
PIE 升級了 Altek 多功能過程校準器 820 和 Altek 830 過程校準器、Altek RTD 校準器 311A 和 211、Altek 熱電偶校準器 422 和 322-1、Altek 過程電壓分析儀 235 和 Altek 4-20 毫安校準器 334 的替代品， 334A 和 434。PIE 535 型是用于 10-50 毫安回路的 Transmation 1040 和 Transmation 1080 的**替代品。
在世界任何地方需要時提供支持
每個 PIE 過程校準器都是在美國使用來自世界各地的組件設計、組裝和校準的。所有 PIE 校準器均在紐約州韋伯斯特使用可溯源至 NIST 的設備進行校準。與其他僅包含校準實踐聲明的校準器不同，PIE 校準器標配校準證書和三年保修！
我們建議每年對我們的產品進行重新校準。請聯系 PIE 或您當地的經銷商進行工廠重新校準。校準也可以由貴公司的校準實驗室或任何合格的校準供應商執行。校準程序發布在我們的網站上。
來自 PIE 的**環路診斷技術
過程回路中的電流泄漏，有時稱為接地故障情況，可能是最難診斷和最令人沮喪的問題之一。通常由不正確的接地、腐蝕或潮濕引起，電流泄漏將表現為環路變送器校準中的零偏移。使用 PIE 的回路診斷校準器可讓您立即讀取此電流泄漏。這將為您節省數小時不必要的校準和故障排除。查看我們的視頻，了解循環診斷的實際操作演示。
