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深圳市中圖儀器股份有限公司

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當前位置：深圳市中圖儀器股份有限公司>>產品展示>>半導體專業檢測設備>>晶圓形貌測量系統

  • 晶圓膜厚測量設備 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000系列晶圓膜厚測量設備可實現砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質晶圓的量測。兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓厚度測量晶圓測量設備半導體測量設備晶圓厚度測量儀無圖晶圓幾何量測系統
    2025/4/24 14:52:56161

  • 晶圓幾何尺寸量測設備 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000系列晶圓幾何尺寸量測設備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓量測設備晶圓幾何量測設備無圖晶圓幾何量測系統晶圓檢測設備半導體晶圓
    2025/4/9 11:38:18269

  • 晶圓微觀幾何輪廓測量系統 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000系列晶圓微觀幾何輪廓測量系統通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓測量設備無圖晶圓幾何量測系統晶圓輪廓測量半導體設備晶圓檢測設備
    2025/4/9 10:48:17283

  • 晶圓翹曲度幾何量測系統 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000晶圓翹曲度幾何量測系統兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。儀器通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓翹曲度測量系統晶圓幾何量測系統無圖晶圓量測系統晶圓量測設備晶圓檢測機
    2025/4/9 10:02:41382

  • 晶圓幾何形貌量測機 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000晶圓幾何形貌量測機兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術，完成非接觸...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    半導體晶圓晶圓測量機晶圓形貌測量儀晶圓檢測無圖晶圓幾何量測系統
    2025/4/9 8:59:36375

  • 高精度晶圓厚度幾何量測系統 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000高精度晶圓厚度幾何量測系統通過非接觸測量，將晶圓上下面的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度、粗糙度、總體厚度變化(TTV)，有效保...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓幾何量測系統晶圓厚度測量晶圓測量設備厚度測量儀半導體晶圓
    2025/4/9 8:09:45405

  • 半導體晶圓幾何表面形貌檢測設備 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000半導體晶圓幾何表面形貌檢測設備兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    半導體晶圓檢測晶圓形貌檢測設備晶圓幾何檢測設備晶圓檢測設備半導體檢測設備
    2025/4/8 21:43:32556

  • 晶圓微觀三維形貌測量系統 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000晶圓微觀三維形貌測量系統自動測量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。非接觸厚度、三維微納形貌一體測量！
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓測量系統晶圓三維形貌儀晶圓形貌測量系統晶圓量測設備半導體晶圓測量
    2025/4/8 20:48:46659

  • 晶圓微納幾何三維形貌測量系統 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000晶圓微納幾何三維形貌測量系統兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓形貌測量系統晶圓幾何測量系統晶圓測量設備無圖晶圓幾何量測系統晶圓形貌測量系統
    2025/4/8 20:02:46616

  • 晶圓微納三維形貌量測系統 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000晶圓微納三維形貌量測系統兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。可實現砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    無圖晶圓幾何量測系統晶圓形貌測量晶圓測量系統晶圓測量設備晶圓表面粗糙度
    2025/4/8 19:33:07546

  • 晶圓細磨硅片粗糙度測量系統 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000晶圓細磨硅片粗糙度測量系統兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它采用白光干涉測量技術對 Wafer 表面進行非接...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    硅片粗糙度測量設備晶圓粗糙度測量儀無圖晶圓幾何量測系統晶圓粗糙度測量系統晶圓粗糙度測量儀
    2025/4/8 18:58:18694

  • 半導體晶圓厚度量測系統 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000半導體晶圓厚度量測系統通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。它自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓厚度測量儀晶圓量測系統晶圓幾何量測系統無圖晶圓幾何量測系統半導體晶圓量測系統
    2025/4/8 18:26:19755

  • 無圖晶圓粗糙度測量系統 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000無圖晶圓粗糙度測量系統提供幾何輪廓分析、粗糙度分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能。其中粗糙度分析包括國際標準ISO4287 的線粗糙度...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    無圖晶圓幾何量測系統晶圓粗糙度測量系統晶圓測量系統晶圓形貌檢測系統半導體晶圓測量
    2025/4/8 17:30:11654

  • 半導體晶圓表面幾何形貌檢測系統 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000半導體晶圓表面幾何形貌檢測系統通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    半導體晶圓檢測系統晶圓幾何檢測系統晶圓形貌檢測系統無圖晶圓幾何量測系統晶圓表面檢測系統
    2025/4/8 16:55:58708

  • 晶圓厚度Wafer參數量測設備 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000晶圓厚度Wafer參數量測設備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓量測設備晶圓厚度量測設備晶圓Wafer量測設備半導體晶圓量測無圖晶圓幾何量測系統
    2025/4/8 16:25:24694

  • 晶圓表面形貌量測設備 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000晶圓表面形貌量測設備兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓形貌量測設備晶圓表面量測設備半導體晶圓量測設備無圖晶圓幾何量測系統晶圓檢測設備
    2025/4/8 16:00:08699

  • 半導體晶圓形貌檢測機 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000半導體晶圓形貌檢測機通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    無圖晶圓幾何量測系統晶圓形貌檢測機半導體晶圓檢測機晶圓檢測機晶圓測量機
    2025/4/8 15:08:02576

  • 晶圓wafer厚度測量設備 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000系列
    WD4000晶圓wafer厚度測量設備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有...
    型號： WD4000系列 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓測量設備晶圓厚度測量設備無圖晶圓幾何量測系統晶圓形貌測量設備晶圓測量機
    2025/4/8 14:33:57846

  • 半導體晶圓幾何形貌量測設備 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000系列
    WD4000半導體晶圓幾何形貌量測設備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有...
    型號： WD4000系列 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    半導體量測設備晶圓幾何形貌量測設備半導體測量設備無圖晶圓幾何量測系統晶圓測量機
    2025/4/8 13:58:23830

  • 半導體晶圓大翹曲wafer測量設備 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000系列
    WD4000系列半導體晶圓大翹曲wafer測量設備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV、BOW、WARP、在高效...
    型號： WD4000系列 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓大翹曲wafer設備半導體測量設備晶圓測量設備無圖晶圓幾何量測系統半導體晶圓形貌測量系統
    2025/4/8 13:12:53873

  • 晶圓Wafer厚度測量系統 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000晶圓Wafer厚度測量系統自動測量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。可實現砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓測量系統晶圓厚度測量晶圓Wafer測量半導體晶圓測量設備無圖晶圓幾何量測系統
    2025/4/8 12:37:40963

  • 晶圓微觀形貌測量系統 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    中圖儀器WD4000晶圓微觀形貌測量系統集成厚度測量模組和三維形貌、粗糙度測量模組，使用一臺機器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三維形...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓形貌測量系統無圖晶圓幾何量測系統晶圓測量系統晶圓測量機半導體晶圓測量
    2025/4/8 11:41:45945

  • 無圖晶圓膜厚檢測設備 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000無圖晶圓膜厚檢測設備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓膜厚檢測設備無圖晶圓檢測設備晶圓檢測設備無圖晶圓幾何量測系統晶圓膜厚檢測設備
    2025/4/8 10:59:29990

  • 無圖晶圓表面形貌粗糙度2D3D檢測機 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000無圖晶圓表面形貌粗糙度2D3D檢測機通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓表面形貌檢測機無圖晶圓幾何量測系統晶圓檢測機晶圓形貌測量機晶圓粗糙度測量機
    2025/4/8 10:26:56897
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