賽默飛智能型鎢燈絲掃描電鏡 參考價：面議
Axia ChemiSEM掃描電鏡，可進行樣品成分信息的采集、處理和展示；依托先進鏡筒技術，保持系統始終處于穩定狀態，可ju焦樣品采集數據，提供高質量圖像；采用...
掃描場發射電鏡 參考價：面議
掃描場發射電鏡：為具有環境真空功能的靈活、多功能高分辨率掃描電鏡，可以將成像和分析全面性能與環境模式（ESEM）相結合，使得樣品研究得以在自然狀態下進行。
賽默飛電子顯微鏡 參考價：面議
全新一代Axia ChemiSEM賽默飛電子顯微鏡，采用*方法進行樣品成分信息的采集、處理和展示；依托先進鏡筒技術，保持系統始終處于狀態。
鎢燈絲掃描電鏡 參考價：面議
新一代Axia ChemiSEM鎢燈絲掃描電鏡，采用*方法進行樣品成分信息的采集、處理和展示；可聚焦樣品采集數據，隨時提供高質量圖像。
環境掃描電子顯微鏡 參考價：面議
Quattro SEM環境掃描電子顯微鏡為具有環境真空功能的靈活、多功能高分辨率掃描電鏡，可以將成像和分析全面性能與環境模式（ESEM）相結合，使得樣品研究得以...
高分辨率掃描電鏡 參考價：面議
Quattro SEM為具有*環境真空功能的靈活、多功能高分辨率掃描電鏡，可以將成像和分析全面性能與環境模式（ESEM）相結合，使得樣品研究得以在自然狀態下進行...
場發射掃描電鏡 參考價：面議
Quattro場發射掃描電鏡的場發射電子槍（FEG）確保了優異的分辨率，通過不同的探測器選項，可以調節不同襯度信息，包括定向背散射、STEM和陰極熒光信息。
賽默飛掃描電鏡 參考價：面議
賽默飛掃描電鏡Axia ChemiSEM，采用*方法進行樣品成分信息的采集、處理和展示；依托先進鏡筒技術，保持系統始終處于狀態。
SEM掃描電鏡 參考價：面議
Prisma E SEM掃描電鏡是一款高度靈活的掃描電子顯微鏡（SEM），在各種條件下都能有出色的全能性能。基于其低真空和環境掃描的SEM （ESEM）模式，它...
TEM掃描電鏡顯微鏡 參考價：面議
Thermo Scientific Talos F200C（S）TEM掃描電鏡顯微鏡是20-200 kV熱場（掃描）透射電子顯微鏡，專為細胞、細胞器、石棉、聚合...
超高分辨場發射掃描電鏡 參考價：面議
Thermo Scientific Apreo 2 SEM超高分辨場發射掃描電鏡搭載*的實時元素成像功能和先進的自動光學系統，實現灰色區域解析，讓您不再憂心顯微...
聚焦離子束電鏡 參考價：面議
Thermo Scientific Helios 5 Laser 聚焦離子束電鏡提供了優良的能力，大體積3D分析，Ga-free樣品制備，和精密微加工。
FIB雙束電鏡 參考價：面議
新一代的賽默飛世爾科技 Helios 5 DualBeam FIB雙束電鏡經過精心設計，可滿足材料科學研究人員和工程師對廣泛的 FIB-SEM 使用需求，即使是...
超高分辨率分析系統 參考價：面議
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統，可為廣泛類型的樣品，包括磁性和不導電材料提供出色的樣品制備和三維表...
PFIB顯微鏡 參考價：面議
PFIB顯微鏡較快的材料去除率和較高的切割面質量，是毫米尺度范圍納米分辨率下較快的高質量亞表面和三維表征設備。
FIB雙束掃描電鏡 參考價：面議
Helios 5 DualBeam FIB雙束掃描電鏡經過精心設計，可滿足材料科學研究人員和工程師對廣泛的 FIB-SEM 使用需求，即使是具挑戰性的樣品。
FIB顯微鏡 參考價：面議
FIB顯微鏡 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統，可為的廣泛類型的樣品，包括磁性和不導電材料提供出色的...
FIB雙束掃描電鏡 參考價：面議
Scios 2 DualBeam FIB雙束掃描電鏡系統創新性的功能設計，優化了樣品處理能力、分析精度和易用性，是滿足科學家和工程師在學術和工業環境中進行高級研...
透射電鏡 參考價：面議
Thermo Scientific Talos F200i S/TEM 透射電鏡是賽默飛用于高分辨率成像和分析應用的場發射掃描/透射電子顯微鏡，其電壓范圍為20...
飛秒激光PFIB 參考價：面議
飛秒激光PFIB Thermo Scientific™ Helios™ 5 Laser PFIB提供了優良的能力，大體積3D分析，Ga-...
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