N5511A是德相位噪聲測試系統
是德提供相位噪聲測量解決方案,簡化測量并大限度提高效率。以30多年低相位噪聲和射頻設計與測量經驗為后盾,我們的創新解決方案提供zui精確的相位噪聲數據,并可以適中的價格為您量身定做,滿足您現在和未來對性能和應用的特殊需求。
N5511A是德相位噪聲測試系統
主要特性與技術指標
頻率范圍
- 射頻輸入頻率范圍:50 khz至40 ghz內相位探測器
- 使用外部相位探測器可以測量100 ghz以上的毫米波信號。
- 寬載波偏移能力,從0.01赫茲到160兆赫內部(十多年)
噪聲測量功能
- 在單通道和雙通道結構中,采用相位檢測器(正交)方法的相位噪聲和殘余相位噪聲。雙通道允許使用互譜平均(互相關)將靈敏度降低到“kt”,即熱相位噪聲地板(-177 dBm/hz)。
- 單端口器件(VCO,DRO,晶體振蕩器,合成器等)的測量和雙端口器件(放大器、變頻器、分頻器等),外加連續波、脈沖和雜散信號。
- 噪聲地板(靈敏度)優于-200 dbc/hz(具有+23 dBm和較高的輸入射頻信號,使用互相關)
- 50 kHz~40 GHz射頻載波的AM噪聲
- 從0.01Hz到160 MHz的基帶噪聲測量
- 使用內置內部或客戶提供的外部prf濾波器的脈沖rf測量
額外能力和效益
- 專為相位噪聲“超級用戶”而設計,現有的商用相位噪聲測試儀器一直無法滿足這些用戶的需要
- 基于現場可編程門陣列(FPGA)的多段快速實時硬件互相關
- 用*向后兼容的熟悉的用戶界面替換Keysight E5505A
- 使用任何頻率可調源作為外部參考,可以提高單通道測量的靈敏度,并大大減少雙通道測量的互相關時間。
- 各種相位噪聲測量技術,包括PLL/參考源、殘差和fm鑒別器方法,都可以靈活地配置。
- PXIe的“未來證明”:添加額外的預認證模塊來完成您的測試系統(例如網絡分析器等)。
- 開放體系結構以靈活的方式將標準儀器、相位噪聲組件和pc軟件結合在一起,允許儀器資產的重用(專有的封閉體系結構不那么靈活,因為嵌入式參考源和分析器可以限制相位噪聲測量性能)。
- N5510A軟件使許多獨立的儀器能夠在一個系統內協同工作
- 通過對外部功率分配器的訪問,用戶可以獨立地向每個信道添加外部衰減器、放大器和其他測試設置附件,并通過互相關過程抑制來自這些設備的任何附加噪聲。
描述
關鍵技術公司N5511A相位噪聲測試系統(PNTS)是一種替代“金標準”鍵控E 5500相位噪聲測量系統。PNTS是測試系統的基礎,在室溫下可以測量到KT(-177 dBm/Hz)的相位噪聲。這種熱相位噪聲地板是任何測量的理論極限。因此,PNTS可以測量到物理極限。
相位噪聲是幾乎所有射頻(RF)和微波器件(包括振蕩器、混頻器、分頻器、倍頻器和放大器)產生的不需要的相位調制噪聲。PNTS是專為相位噪聲“超級用戶”設計的,現有的商用相位噪聲測試儀器(如“單盒”集成測試解決方案)一直無法滿足這些用戶的需求。這些人是典型的相位噪聲專家,他們希望充分描述從他們的射頻和微波設備中產生的相位噪聲(以及AM噪聲和基帶噪聲)。電力用戶,包括負責開發高性能航空航天和國防應用的專業人員,以及為5G和其他無線通信系統設計設備的專業人員,需要不斷地驗證和改進其設計的相位噪聲性能。
有關相位噪聲的更多信息,請訪問相位噪聲測量.
N5511A是德相位噪聲測試系統