本文檔提供了Keysight Technologies，Inc.E4981A電容計的規格和補充信息。所有規格適用于0°C至45°C溫度范圍內的條件，除非另有說明，并在儀器已打開30分鐘后。

目錄

• 定義和規格

• 測量顯示范圍

• 可用測量范圍

• 可用測量范圍

• 可用測量范圍

• 環境溫度超過18～28°C范圍時的精度（典型值）

• 施加交流磁場時的精度

• 測量精度

• 補充資料

• 測量信號

• 測量時間

• 顯示時間

• 測量數據傳輸時間

• 測量輔助功能

• 一般規格

• 電磁兼容、安全、環境和合規性

• 電磁兼容、安全、環境和合規性

• 測量精度的樣本計算

• 樣品

• 當測量參數為Cp-D（或Cs-D）時

• 當測量參數為Cp-Q（或Cs-Q）時

• 當測量參數為Cp-G時

• 當測量參數為Cp-Rp時

• 當測量參數為Cs-Rs時

介紹

今天，元器件制造商需要更高的生產率和元器件產量，以便提供更低成本的產品，更快的交貨和更高的可靠性，以與非常激烈的競爭競爭。因此，大多數元器件生產商需要使用掃描儀進行阻抗測試，以提高生產率和控制其產品的質量。然而，使用掃描器進行測量不同于使用普通測試夾具進行測量。有必要減少由于延長電纜和掃描儀中存在的殘余阻抗而產生的測量誤差。本應用說明描述如何采用使用LF LCR計和LF阻抗分析儀與掃描儀的測量系統，以及如何解決使用掃描系統時可能產生的殘余阻力相關的問題。此外，本說明涵蓋了實際的掃描系統實例，如電子元件的溫度特性評估和絕緣電阻測量。

設計掃描系統

本節首先介紹設計掃描系統的關鍵點，然后解釋系統

配置、特殊考慮因素，以及為處理這些問題而設計的解決方案。

審查所需規格

掃描系統的示例如圖1所示。該掃描系統允許一臺測量儀器通過切換到另一臺測量許多被測設備（DUT）。當您設計掃描系統時，您必須選擇掃描器和電纜配置。為此，您應澄清對系統的測量要求（規格）。要復核的規格包括測量精度、DUT的阻抗、測試頻率和掃描器通道的數目。所需的測量精度將決定掃描系統中允許的最大殘余阻抗和雜散電容。此外，測量值和測試頻率要求由電纜配置決定。通道數目決定您應選擇的掃描器類型。

選擇電纜配置

掃描儀所使用的電纜配置取決于所要測量的阻抗值，如表1所示，有兩種電纜配置可供選擇:四端對（4TP）和屏蔽雙端（2T），使用4TP配置可在寬阻抗和頻率范圍內達到最高精度，但由于每個測量通道需要許多電纜和開關，因此硬件成本增加；另一方面，如果DUT的阻抗大于100歐姆，且測量頻率范圍高于100 kHz，則可以使用屏蔽2T配置，屏蔽2T配置可讓您以較低的系統成本擁有最大數量的測量通道。