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聚創(chuàng)高低溫濕熱試驗(yàn)箱A型該設(shè)備主要是針對(duì)于用于電工、電子產(chǎn)品、儀器儀表、材料、元器件的高低溫及儲(chǔ)存試驗(yàn),廣泛用于航空、航天、電信、儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品...

高低溫濕熱試驗(yàn)箱A型該設(shè)備主要是針對(duì)于用于電工、電子產(chǎn)品、儀器儀表、材料、元器件的高低溫及儲(chǔ)存試驗(yàn),廣泛用于航空、航天、電信、儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各...

聚創(chuàng)環(huán)保高低溫試驗(yàn)箱C型該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按...

聚創(chuàng)高低溫試驗(yàn)箱C型該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)...

高低溫試驗(yàn)箱C型該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)...

聚創(chuàng)環(huán)保高低溫試驗(yàn)箱B型該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按...

聚創(chuàng)直銷高低溫試驗(yàn)箱B型該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按...

聚創(chuàng)高低溫試驗(yàn)箱B型該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)...

高低溫試驗(yàn)箱B型該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)...

一、產(chǎn)品介紹光束掃描型紫外可見分光光度計(jì)1、光度測(cè)量：可同時(shí)測(cè)量1～6個(gè)波長(zhǎng)處的透過(guò)率和吸光度。2、光譜測(cè)量：在波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行透過(guò)率、吸光度和能量的圖譜掃描，并...

一、產(chǎn)品介紹光束掃描型紫外可見分光光度計(jì)1、光度測(cè)量：可同時(shí)測(cè)量1～6個(gè)波長(zhǎng)處的透過(guò)率和吸光度。2、光譜測(cè)量：在波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行透過(guò)率、吸光度和能量的圖譜掃描，并...

聚創(chuàng)環(huán)保高低溫試驗(yàn)箱A型主要是、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或...

聚創(chuàng)直銷高低溫試驗(yàn)箱A型主要是、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或...

聚創(chuàng)高低溫試驗(yàn)箱A型主要是、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶...

UV755B型掃描型紫外分光光度計(jì)是由光源、單色器、吸收池、檢測(cè)器和信號(hào)處理器等部件組成。光源的功能是提供足夠強(qiáng)度的、穩(wěn)定的連續(xù)光譜。紫外光區(qū)通常用氫燈或氘燈....

高低溫試驗(yàn)箱A型該設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)...

聚創(chuàng)環(huán)保高低溫交變?cè)囼?yàn)箱C型主要是、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要...

UV759CRT掃描型紫外可見分光光度計(jì)是由光源、單色器、吸收池、檢測(cè)器和信號(hào)處理器等部件組成。光源的功能是提供足夠強(qiáng)度的、穩(wěn)定的連續(xù)光譜。紫外光區(qū)通常用氫燈或...

聚創(chuàng)直銷高低溫交變?cè)囼?yàn)箱C型主要是、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要...

UV759掃描型紫外可見分光光度計(jì)參數(shù)：1、波長(zhǎng)范圍：190-1100nm2、波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：±0.3nm3、波長(zhǎng)重復(fù)性：0.1nm4、光譜帶寬：1.8n...