熒光法殘氧儀/頂空分析儀

熒光法是一款熒光衰減法原理的殘氧分析儀，將微頂空的樣氣通過專門的氣體采集裝置采集到內部置有熒光貼片的采集漏斗。然后采用熒光法檢測頂空殘氧。熒光檢測原理：氧分子和熒光貼片中的熒光物質接觸后，使得熒光物質發射的熒光信號減弱。信號衰減程度和氧含量成正比。
熒光采樣分析的檢測方式與電化學的取樣分析不同，熒光法只需要對樣品采集最小 0.1ml的樣氣，并且熒光法的測試精度更高，符合 ASTM F2714-08標準測試方法。
熒光法可以適用于安瓿瓶、西林瓶、預注射等微小頂空的殘氧測試，測試結果可靠，不受樣氣量大小的影響。

熒光法殘氧儀/頂空分析儀

X-325i是一款常用于制藥行業集頂空殘氧/溶解氧的多功能分析儀。這款設備是基于光學感應的熒光衰減法檢測原理，頂空分析過程不對樣品進行采樣，對頂空樣氣體積及頂空條件（如負壓）無要求，最小樣氣量僅需0.1ml即可完成精準分析。有別于傳統方法諸如電化學、氧化鋯等對樣氣量、頂空條件（負壓）有要求的采樣分析方式。