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當前位置：蘇州福佰特儀器科技有限公司>>技術文章>>X射線熒光光譜儀教程
化學成分分析的方法主要有化學分析，物理分析。其中物理分析越來越受到研究者的關注，其具有幾個特點：
1.不破壞樣品成分，
2.絕大部分的物理分析的區域很小
3.儀表面分析方法為主
4.分析速度快，靈敏度高。常見的物理分析方法包括X射線熒光光譜（XRF）等離子發射光譜（ICP）原子吸收光譜（AAS）原子熒光光譜法（AFS）和電子探針分析（EPMA）
XRF分析測試技術已經在地質，冶金，電子機械，石油，航空航天材料，生物，生態環境等領域廣泛應用。
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