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| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 四極桿質譜 | 應用領域 | 醫療衛生,食品/農產品,化工,生物產業,制藥/生物制藥 |
IONOPTIKA GCIB10S 離子源系統
GCIB10S是一種高性能10千伏氣體團簇離子束，用于快速、低損傷濺射和更高質量的表面分析。GCIB 10S提供了大量有用的功能，包括實時集群大小測量和內置樣本電流成像系統，以幫助您充分利用實驗。
簡介：
GCIB 10S是一種高性能10千伏氣體團簇離子束，用于快速、低損傷濺射和更高質量的表面分析。
GCIB 10S提供了大量有用的功能，包括實時集群大小測量和內置樣本電流成像系統，以幫助您充分利用實驗。
GCIB 10S具有完整的泵送系統和單獨軟件，是一種栓接式升級，將集束束濺射的力量引入現有的真空儀器，如XPS、SEM和SIMS。
主要參數：
特點:
◇ 10kV氬團簇離子源，可選擇Ar1至>Ar3000的團簇；
◇ 實時集群測量和調整；
◇ 采樣電流成像；
◇ 光斑尺寸大，掃描范圍寬，可均勻去除材料；
◇ 易于安裝在許多高真空儀器上；
◇ 單獨軟件和基于web套接字的API，用于與第三方軟件集成
應用技術：
GCIB 10S可去除不定碳和其他表面污染，而不會損壞基材， 同時還可對有機物和聚合物等軟材料進行無損傷深度剖析。
右圖顯示了分別使用Ar1和Ar2000蝕刻原始PET表面前后的C 1s 峰值。數據清楚地顯示了單原子Ar1束（紅色）造成的化學損傷，而光譜在暴露于Ar2000束（藍色）后幾乎保持不變
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