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深圳市秋山貿(mào)易有限公司
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日本yamabun桌面離線型測厚儀介紹
2022-2-18 閱讀(1288)
日本yamabun桌面離線型測厚儀介紹
離線式測厚儀是臺式緊湊型測厚儀。將薄膜或片材切成條狀并測量。由于測量是在自動運輸?shù)耐瑫r進行的，因此任何人都可以輕松快速地進行測量，并且不受測量者技能的影響是一大特點。
常用于質(zhì)量控制部門和研發(fā)應用。此外，由于測量的圖形可以以環(huán)形顯示，因此經(jīng)常用于充氣膜的制造現(xiàn)場。
型號：TOF-4R05
測量方法
線規(guī)/夾取法
測量對象：薄膜、片材
測量厚度：0.03 至 3 毫米
型號：TOF-5R01
測量方法
線性規(guī)
測量對象：膠片/膠卷
測量厚度：0.02-0.2毫米
型號：TOF-6R001
測量方法
線性規(guī)
測量對象：薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學薄膜等）
測量厚度：5-100微米
型號：TOF-C2 * TOF-C 的后續(xù)型號
測量方法
非接觸式
電容式
測量對象：薄膜、粘性保護膜、易附著灰塵的薄膜
測量厚度：~ 500 微米
型號：TOF-S
測量方法
非接觸式
光譜干涉儀
測量對象：電子、光學用透明平滑膜、多層膜
測量厚度：1 至 50 μm（用于薄材料）
10 至 150 μm（用于厚材料）
型號：TOF-M
測量方法
線性規(guī)
測量對象：鋼板或鋁板等金屬板
測量厚度：0.1-0.5毫米
