根據(jù)GB/T 11417.5 4.1相關內容，接觸鏡的后頂焦度在空氣中可使用焦度計測定，在鹽溶液中可使用摩爾偏折儀或哈特曼法測定。

摩爾偏折儀即使用摩爾干涉條紋偏折法的接觸鏡測量儀器，其基本測量原理是：摩爾干涉條紋的轉動角度與鏡片屈光度成一定比例關系。

世界上只有以色列的ROTLEX公司生產該種儀器，目前該儀器的型號為CONTEST II。該儀器可在空氣中測量接觸鏡，也可在溶液中測量。由于它能夠得到整個鏡片上每一個點或區(qū)域的后頂焦度，意味著可以測量鏡片的“光學分布圖"，所以對于焦度計很難測量的環(huán)曲面鏡片，多焦點鏡片或近視防控鏡片等特殊類型的鏡片，摩爾偏折儀具有顯著的優(yōu)勢。

由于摩爾偏折儀可以在溶液中測量接觸鏡，對于水凝膠接觸鏡來說，其測量的時候會處于相對穩(wěn)定狀態(tài)，所以，相對于焦度計而言，其測量的準確度和重復性會好很多。

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Contest II隱形眼鏡（接觸鏡）光學分析儀的特點：

• 可在空氣中或溶液中測量

• 可測量各種鏡片，如水凝膠或硅水凝膠，RGP，角膜塑形鏡，鞏膜鏡等

• 可測量單光鏡片、散光鏡片、非球面鏡片、多焦點等任意設計的鏡片

• 測量球鏡和散光值：球面，非球面，散光，多焦點等

• 可查看任意點、任意孔徑、環(huán)形區(qū)域或子午線上的數(shù)據(jù)

• 內置分析模式，可分析任意斷面的屈光分布情況

• 可設置自動判斷功能，數(shù)據(jù)可導出至第三方軟件

Contest II 隱形眼鏡（接觸鏡）光學分析儀（高分版）的產品優(yōu)勢：

• 高精度波前傳感器能夠提供遠多于傳統(tǒng)焦度計的數(shù)據(jù)和精度，測量數(shù)據(jù)大于35000點

• 測量原理：采用具有的摩爾條紋干涉技術并結合了雙光柵Lau效應

• 內部光學系統(tǒng)為全固定設計，無移動部件，保證了長時間的穩(wěn)定和精確

• 軟件界面功能強大，操作簡單，內置研發(fā)模式是鏡片設計人員的利器

• 光度分布圖可揭示對刀問題

• 可直接測量光學區(qū)域（Optical Zone）

Contest II 隱形眼鏡（接觸鏡）光學分析儀（高分版）的技術參數(shù)：

• 尺寸：25cmX19cmX52cm

• 重量：9Kg

• 測量范圍：-35D ~ +35D ，（可擴展至60D）

• 分辨率：0.01D

• 測量精度：0.5%

• 像素尺寸：7微米

• 供電：12VDC

• 操作系統(tǒng)：Windows XP/7/8/10

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