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蒸汽老化試驗箱 半導體蒸汽老化壽命試驗箱

儀器用途：

蒸汽老化試驗箱適用于電子連接器、電鍍產品、半導體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產業(yè)、電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗；半導體、被動組件、零件接腳氧化試驗。微電腦溫度控制器、LED數(shù)字顯示，PID+SSR控制，白金電阻溫度傳感器（PT100），分辨率0.1℃，全自動安全保護裝置。

技術參數(shù)：

儀器型號：FLR-210 蒸汽老化試驗箱

內部尺寸：500×400×170（W×H×D）mm ；

外部尺寸：600×500×420（W×H×D）mm ；

箱體材質：SUS304#不銹鋼板；

保溫層：PV發(fā)泡膠

升溫時間：大約40分鐘 ；

控制功能：PID+SSR,數(shù)字式顯示；

蒸汽溫度：RT～97℃ ；

計時功能：1～9999H/M/S，附時到報警功能，時間到達后切斷電源 ；

水位控制：低水位報警功能 ；

儀器電源：1? 220V±10% 50Hz

儀器重量：30KG

蒸汽老化試驗箱 半導體蒸汽老化壽命試驗箱

結構特點

蒸汽老化試驗箱整體不銹鋼SUS #304 制成，操作設定簡易

微電腦數(shù)位LED控制，具時間規(guī)劃功能，大可設定9,990Mins

多重超溫保護/缺水切電熱等安全裝置。

零件、連接器被動元件，半導體接腳高溫高濕氧化試驗。

金屬接腳沾錫性試驗加速老化試驗。

采用式PID+SSR溫度控制器，同時具有時間計時功能，大可設定9990分式無限。