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上海辰丁自動化設備有限公司
主營產品： PHD氣缸上海代理商,(PHD傳感器|LENZE變頻器)上海現貨,(倫茨變頻器|巴士德開關)德國進口 |
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2016-12-27 閱讀(2067)
VEGA物位計產品分類
德國VEGA物位計說明:德國VEGA物位計，VEGA料位計，VEGA液位計
德國威格VEGA物位計 威格VEGA料位計 威格VEGA傳感器 威格VEGA液位計 威格VEGA雷達液位計
威格VEGA雷達物位計 威格VEGA物位開關 威格VEGA料位開關 威格VEGA超聲波傳感器 威格VEGA超聲波物位計
威格VEGA雷達料位計 威格VEGA雷達傳感器 威格VEGA電容傳感器 威格VEGA電容開關 威格VEGA微波傳感器
威格VEGA微波物位計 威格VEGA微波料位計 威格VEGA微波物位傳感器 威格VEGA電極
雷達式物位測量儀表
VEGA物位雷達式PULS61/62/63/65/66系列
液體或固體介質，特別適用于高溫、高壓、真空、粉塵、
蒸汽及測量腐蝕性*或混合度高的介質。
超聲波式物位測量儀表
VEGA超聲波物位測量SON61/62/63系列
用于測量不同密度及表面特性的液體和固體介質，測量開
口明渠的流量和距離。
導向微波式物位測量儀表
VEGA導向微波式物位測量FLEX61/62/63系列
對所有介質進預*要*預先進要先進行位式檢測，這些介質必須能減弱或反射微
波。用來監控傳送設備運轉狀況。
振動式物位測量儀表
VEGA振動式固料式測量VIB61/63
VEGA振動式位式測量SWING51/61/63
用于對液體和固體進預*要*預先進要先進行位式檢測。測量結果不受被測介質
特性的影響，也不受容器內工況條件的影響。
電容式物位測量儀表
VEGA電容物位測量CAL62/63/64/65/66/67
適用于各種介質包括腐蝕性介質及高溫、高壓的測量環境
VEGA靜壓式物位及壓力測量WEL
VEGA物位產品
雷達式物位測量儀表
VEGA物位雷達式PULS61/62/63/65/66系列
液體或固體介質，特別適用于高溫、高壓、真空、粉塵、
蒸汽及測量腐蝕性*或混合度高的介質
VEGAPULS 61
配有塑封天線系統的雷達傳感器，用于連續物位測量(K-頻段)
特別適用于測量腐蝕性液體，或用于開口容器或渠道。
VEGA優勢
- 探頭材料: PVDF 或 PP
- 可以測量至距離天線下緣50mm的地方
- 測量精度 ±5 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調試
- 屬于plics產品系列
測量范圍 達 20 米
過程連接 G1 1/2A螺紋, 龍門框或法蘭
過程溫度 -40 ... 80°C
過程壓力 -1 … +3 bar (-100 … +300 kPa)
測量精度 ±5 mm
發射頻率 K-頻段
VEGAPULS 62
配有喇叭口天線、拋物線天線或?"- 導波管天線的雷達傳感器，用于連續物位測量(K-頻段)
適用于存儲容器或過程容器，可以在惡劣條件下測量幾乎所有介質。
VEGA優勢
- 非接觸 式測量，不受過程溫度、過程壓力和過程氣體的限制
- 可以測量至距離天線下緣50mm的地方
- 測量精度 ±3 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調試
- 屬于plics產品系列
測量范圍 達 35 米
過程連接 螺紋或法蘭
過程溫度 -40 ... 200°C
過程壓力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa)
測量精度 ±3 mm
發射頻率 K-頻段
液體或固體介質，特別適用于高溫、高壓、真空、粉塵、蒸汽及測量腐蝕性*或混合度高的介質。
VEGAPULS 61
配有塑封天線系統的雷達傳感器，用于連續物位測量(K-頻段)
特別適用于測量腐蝕性液體，或用于開口容器或渠道。
優勢
- 探頭材料: PVDF 或 PP
- 可以測量至距離天線下緣50mm的地方
- 測量精度 ±5 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調試
- 屬于plics產品系列
測量范圍 達 20 米
過程連接 G1 1/2A螺紋, 龍門框或法蘭
過程溫度 -40 ... 80°C
過程壓力 -1 … +3 bar (-100 … +300 kPa)
測量精度 ±5 mm
發射頻率 K-頻段
VEGAPULS 62
配有喇叭口天線、拋物線天線或?"- 導波管天線的雷達傳感器，用于連續物位測量(K-頻段)
適用于存儲容器或過程容器，可以在惡劣條件下測量幾乎所有介質。
優勢
- 非接觸是測量，不受過程溫度、過程壓力和過程氣體的限制
- 可以測量至距離天線下緣50mm的地方
- 測量精度 ±3 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調試
- 屬于plics產品系列
測量范圍 達 35 米
過程連接 螺紋或法蘭
過程溫度 -40 ... 200°C
過程壓力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa)
測量精度 ±3 mm
發射頻率 K-頻段
VEGAPULS 63
配有塑封天線系統的雷達傳感器，用于連續物位測量 (K-頻段)
特別適用于測量腐蝕性強的介質，或用于衛生無菌要求高的環境。
優勢
- 用于探測的材料只有一種
- 可以測量至距離天線下緣50mm的地方
- 測量精度 ±3 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調試
- 屬于plics產品系列
測量范圍 達 20 米
過程連接 法蘭或衛生連接
過程溫度 -200…150°C
過程壓力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa)
測量精度 ±3 mm
發射頻率 K-頻段
VEGAPULS 65
配有棒式天線系統的雷達傳感器，用于連續物位測量 (C-頻段)
特別適用于小的過程連接，在較為簡單的過程條件下測量腐蝕性液體。
優勢
- 探頭材料: PVDF 或 PTFE
- 可以測量至距離天線下緣100mm的地方
- 測量精度 ±10 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調試
- 屬于plics產品系列
測量范圍 達 35 米
過程連接 G1 1/2A螺紋或法蘭
過程溫度 -40 ... 150°C
過程壓力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa)
測量精度 ±10 mm
發射頻率 C-頻段
VEGAPULS 66
配有喇叭口天線或2”導波管天線的雷達傳感器，用于連續物位測量(C-頻段)
特別適用于在復雜的過程條件下進預*要*預先進要先進行測量。
優勢
- 非接觸是測量，不受過程溫度、過程壓力和過程氣體的限制
- 可以測量至距離天線下緣100mm的地方
- 測量精度 ±10 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調試
- 屬于plics產品系列
測量范圍 達 35 米
過程連接 法蘭
過程溫度 -40 ... 400°C
過程壓力 -1 … +160 bar (-100 … +16000 kPa)
測量精度 ±10 mm
發射頻率 C-頻段
VEGAPULS 67
配有塑封天線系統的雷達傳感器，用于連續固料料位測量(K-頻段)
特別適用于測量固體料位，料倉高度可達15米。
優勢
- 非接觸式測量，不受粉塵和風送首*首先進入料的限制
- 測量精度 ±15 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調試
- 屬于plics產品系列
測量范圍 達 15 米
過程連接 龍門框或鎖緊法蘭
過程溫度 -40 ... 80°C
過程壓力 -1 … +2 bar (-100 … +200 kPa)
測量精度 ±15 mm
發射頻率 K-頻段
VEGAPULS 68
配有喇叭口天線或拋物線天線的雷達傳感器，用于連續測量固體料位 (K-頻段)
特別適合測量固體料位，通過萬向節可以調整天線方向，以適用于不用形狀的料倉，并對準料面。
優勢
- 非接觸式測量，不受粉塵和風送首*首先進入料的限制
- 測量精度 ±15 mm
- ECHOFOX-信號分析處理，采用*模糊邏輯
- 通過 PLICSCOM, HART-編程器或計算機調試
- 屬于plics產品系列
測量范圍 達70 米
過程連接 G1 1/2A螺紋或法蘭
過程溫度 -40 ... 200°C
過程壓力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa)
測量精度 ±15 mm
發射頻率 K-頻段
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