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在線XRF 光譜儀
Vanta iX在線XRF分析儀可以對材料進行自動分析
保持生產過程高速運行
值得依賴的準確性能
奧林巴斯Vanta iX在線X射線熒光(XRF)分析儀可以對生產線上的產品進行自動材料分析和合金牌號辨別,并即時提供結果,從而可對生產過程進行實時監控,并對合金進行100%無遺漏辨別。
這款分析儀可全天時、全天候(24/7)運行,經過配置,可提供通過/失敗結果、準確的合金牌號,以及材料的化學成分信息。
• 高分辨率:辨別多種合金牌號,包括輕元素和重元素
• 快速提供準確的結果:分析儀具有速度快、穩定性強,及高計數率等特性
• 高效率:配備了硅漂移探測器(SDD),并采用了受好評的Axon技術(所有Vanta分析儀都采用了這種技術)
在金屬制造過程中對產品進行100%無遺漏檢測
對于采用工業4.0方案并對生產過程實施全天時、全天候(24/7)控制以驗證合金的企業來說,可以使用Vanta iX分析儀對制造過程中的棒材、坯材、管材,以及機械加工零件和定制部件進行材料驗證和批次/爐號控制。使用Vanta iX分析儀對產品進行自動化檢測提升了成品的價值,因為可以借此證明材料經過了100%的檢測和驗證。
地質選礦過程中的掃查和監控
在地質選礦和采礦方面,Vanta iX分析儀可以對巖芯進行掃查,對傳送帶上的礦石進行分析,并提供實時結果,以監控選礦和采礦過程中發生的變化,并確保礦石品位的一致性。在對傳送帶上的礦石進行分析的過程中,分析儀可以為精礦提供配礦驗證和選礦驗證。
在線XRF 光譜儀智能整合
Vanta iX分析儀上有幾個安裝孔,可方便地將分析儀安裝到現有的機器人或其他系統上。沒有外部控制箱,因此可以通過PLC(可編程邏輯 控制器)和離散導線,或者通過Vanta Connect API(應用程序
編程接口)輕松控制分析儀。接口選項:
• 以太網(RJ-45),可啟用以太網供電
• USB
• 離散I/O(16針)
• 輔助DC電源
堅固耐用,適用于生產線環境
Vanta iX分析儀可以承受住生產設備的劇烈振動、強烈的電磁噪聲和聲學噪音,并具有防塵和防潮的特性。
• 通過了振動測試和機械撞擊測試(MIL-STD 810G)
• 符合IP54評級標準
• 可以在–10 °C至50 °C的溫度范圍內連續工作
內置散熱器可以降低分析儀內部的溫度,而通過機身上的風扇連接點可將分析儀與風扇連接,加強冷卻效果。無需使用工具,就可以更換分析儀的窗口,從而實現快速維護的目標。
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Vanta iX分析儀的技術規格
外型尺寸(寬 × 高 × 厚) | 10 cm × 7.9 cm × 26.6 cm |
重量 | 2.4公斤 |
激勵源 | X射線管:銠或鎢陽極靶材(應用優化),5 ~ 200 µA MR型號:8 ~ 50 keV(最大4 W) CW型號:8 ~ 40 keV(最大4 W) |
主光束濾光片 | 8種濾光片位置,根據選擇的光束和方式自動匹配。 |
探測器 | MR型號:大區域硅漂移探測器 CW型號:硅漂移探測器 |
電源 | 通過以太網(PoE+)或者18 V AC電源適配器供電。 |
可檢測元素范圍 | 取決于方式: MR型號:從鎂(Mg)到鈾(U)的元素 CW型號:從鈦(Ti)到鈾(U)的元素(使用標準窗口并經過校準) |
壓力校正 | 內置氣壓計,用于海拔和空氣壓力的自動校正。 |
IP評級 | IP54 |
操作環境 | 溫度范圍:?10 °C ~ 50 °C,可連續工作。濕度:相對濕度為10 % ~ 90 %,無冷凝。 |
操作系統 | Linux |
應用軟件 | 奧林巴斯專有的數據采集和處理軟件包 |
耐用性測試 | 功能性撞擊:通過了美軍標準MIL-STD-810G,方式516.6:撞擊程序I, 20g 11 ms(操作安全),40g 11ms(撞擊安全)中的測試。 |
振動測試 | 通過了美軍標準MIL-STD-810G,方法514.4:一般振動,程序I附錄C, 圖514.6C-5中的測試,1小時,一般暴露。 |
轉接墜落測試 | 通過了美軍標準MIl-STD-810G,方法516.6:轉接墜落,程序IV中的測試, 26次墜落 |
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