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短波紅外（SWIR）復消色差遠場校正物鏡
l 在短波紅外波段具有高分辨率，波長可達1600nm
l 放大倍率從 1X 到 50X 不等
l 適用于光電發射檢測、激光刻印和激光切割
通用規格
最大像圈 (mm): | 24.00 |
產品介紹
SWIR 復消色差遠場校正物鏡經過色彩校正可在 800 – 1600nm 波段內，長距離條件下具備高分辨率。這些物鏡提供 1X 至 50X 的放大倍率，具有高數值孔徑，適用于短波紅外波長下的高分辨率成像。這些物鏡具有共同的95毫米平焦距，可以與 200mm 焦距的筒鏡和 C-mount 相機 結合使用用于簡單的系統集成。短波紅外復消色差遠場校正物鏡適用于光電發射檢測、晶圓背面檢查、激光玻璃切割和激光掃描顯微鏡等應用。
訂購信息
標題 | 產品編碼 |
26-217 | |
2.5X SWIR PE IR Plan APO Objective | 26-218 |
10X SWIR PE IR Plan APO Objective | 26-219 |
20X SWIR PE IR Plan APO Objective | 26-220 |
50X SWIR PE IR Plan APO Objective | 26-221 |
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