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由于標準硅基傳感器通常僅對波長上限 1000 nm 敏感，因此 需要能夠超越硅材料上限成像的傳感器。InGaAs傳感器通常用于 SWIR 成像，光譜范圍覆蓋 9...

BND-0622TP-Basic相機式激光光束質量分析儀，測量波長范圍為340-1100 nm的激光束功率分布和光斑。平均功率范圍為 1W，焦斑尺寸最小可達6....

BND-0615UP-Basic 是一款基礎型激光光束質量分析儀，采用cmos 傳感器，兼容連續和長脈沖光，高損傷閾值，攜帶方便，操作簡單。高分辨率國產CMOS...

BND-0512UP-Basic一款適用于 340-1100 nm 的CMOS激光光束質量分析儀，基于全局快門，配備12.8*12.8 mm檢測面積和軟件。憑借...

BND-0511UK-Basic激光光束分析儀4096*3072高分辨率探測器 和 340-1100 nm 的光譜響應。通過全套附件，該設備的多功能性得到極大提...

BND-0310UK-Basic光束分析儀集成 CMOS 傳感器，從而實現了更高的輸出分辨率，傳感器的有效水平尺寸13.1*9.8 mm ，可測量較大的光束直徑...

BND-S0505GK-Basic 是一款 InGaAs 光束分析儀，采用全局快門，可為可見光、短波紅外(SWIR)和增強型短波紅外(eSWIR)光源提供高質量...

BND-0204UB-Basic 光束分析儀配備高分辨率和大面積傳感器，可確保對小光束和大光束進行精確分析。光束分析儀有兩種波段可供選擇： 340 - 1100...

BND-0307UK-Basic CMOS 相機光束分析儀分別設計用于 340 - 1100nm 和 190-340 nm (選配) 波長范圍內的光束分析。具備...