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X-RST-DE系列 參考價：面議
X-RST-DE系列，電動旋轉滑臺，集成控制器和直接讀取編碼器，360度旋轉，直徑120mm， 高分辨率，扭矩大。
X-RST-E系列 參考價：面議
X-RST-E系列，電動旋轉臺，集成控制器和電動編碼器，360度選裝，直徑120mm, 扭矩大。
X-RSB-E 系列 參考價：面議
X-RSB-E 系列，電動旋轉滑臺，集成控制器和電動編碼器，360度旋轉，直接60-120mm, 高速，電機道。
X-LDQ-AE 系列 參考價：面議
X-LDQ-AE 系列，線性電動位移臺，集成控制器。速度可達1.5m/s, 加速度為2g。
X-LDM-AE 系列 參考價：面議
X-LDM-AE 系列，線性電動位移臺，集成控制器。高重復性（80nm）和精度 (1 µm),最小移動量 25nm。
X-VSR 系列 參考價：面議
X-VSR 系列，電動升降位移臺，集成控制器，手動控制。行程20mm 或40mm ，速度高達48mm/s,推力可達 200N。
VSR 系列 參考價：面議
VSR 系列，電動升降位移臺，高分辨率。設計用于X-MCB1系列步進電機控制器或任何兩相步進電機控制器 。
納米定位平臺 參考價：面議
納米定位平臺設備和電容式傳感器是性能很高的產品。亞納米級分辨率與高速度的結合使其成為嚴苛應用的理想選擇。
超精密六自由度精密系統 參考價：面議
超精密六自由度精密系統，SYMETRIE 強大的研發能力造就了高性能的六自由度定位系統和六自由度運動系統。
步進電機a-lar200apc-e01_w400_front 參考價：面議
步進電機a-lar200apc-e01_w400_front特點：編碼器位置反饋；內置控制器；易于與 A-series 和 T-series 產品銜接；可根據用...
步進電機group_x-lrq-dec_p 參考價：面議
步進電機group_x-lrq-dec_p特點：內置控制器，易于與其他Zaber 產品銜接;內聯和并聯雙驅動，滾珠絲杠和絲杠的配置;可根據用戶實際需求定制。
步進電機group_a-lar 參考價：面議
步進電機group_a-lar特點：編碼器位置反饋；內置控制器；易于與 A-series 和 T-series 產品銜接；可根據用戶實際需求定制。
步進電機group_x-lrq-dec 參考價：面議
步進電機group_x-lrq-dec內置控制器，易于與其他Zaber 產品銜接；內聯和并聯雙驅動，滾珠絲杠和絲杠的配置：可根據用戶實際需求定制。
小型傅里葉紅外光譜儀 參考價：面議
小型傅里葉紅外光譜儀（中紅外光譜儀），是一種穩固、便攜和高靈敏、高分辨率（≤4cm-1）傅里葉變換光譜儀。
光源輻射度測量儀 參考價：面議
光源輻射度測量儀是專門用于測量光源，比如太陽光模擬器發光光譜能量分布。應用于測量連續或脈沖光源光譜及太陽光模擬器的校驗。
氣體分析儀 參考價：面議
氣體分析儀，強大的氣體分析模塊，基于我們強大的4波段分辨率的傅里葉變換紅外光譜和一個小型的5米光路，小體積（0.2升）多次加熱單元。
光學表面質量檢測系統 參考價：面議
光學表面質量檢測系統是一款革命性的光學表面 質量檢測系統，具備高重復性和準確性。
非接觸式測厚儀 參考價：面議
非接觸式測厚儀采用了短相干光源的邁克爾遜干涉儀原理?？蓡未螠y量多層膜，最高可測 20 層。
夏克哈特曼傳感器 參考價：面議
夏克哈特曼傳感器集合了干涉儀、光束分析儀、自準直儀及四象限探測器優點于一身，具有測量速度快、精度高、尺寸小巧的特點。
干涉儀 參考價：面議
干涉儀：非接觸式技術檢測拋光平面和球面的精度（功率、不規則度）；測試表面半徑；檢測目標傳輸波前畸變（TWD)。
Optikos相機測試系統Meridian Starfield 參考價：面議
Optikos相機測試系統Meridian Starfield采用緊湊型高精度設計，適用于生產線末端相機測試，或在大批量生產中對相機組件進行主動校準。
Optikos OpTest®光學測量與測試系統 參考價：面議
Optikos OpTest®光學測量與測試系統融合了光學和光機工程領域的新技術與創新結果，由Optikos的工程師專門為鏡頭測試設計的定制光學元件、...
LensCheck™系列小口徑鏡頭MTF傳函儀 參考價：面議
LensCheck™系列小口徑鏡頭MTF傳函儀，靈活擴展的平臺能夠應對更廣泛的測量 (例如：MTF、EFL、畸變等) 。
雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER 參考價：面議
雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER為學術界和工業界的研究人員提供了評估雙折射的能力。無論是生物材料還是工業材料。
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