原位解決方案力學-電學測量系統 參考價：面議
原位解決方案力學-電學測量系統（定量力+電+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內集成納牛力傳感器，實現高精度的力學及電學測量。
原位解決方案-低溫電學測試系統 參考價：面議
原位解決方案-低溫電學測試系統（非定量力+電+低溫+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內集成低溫環境控制單元，從而實現在透射電鏡中進行原位低溫電學測量的目的。
原位解決方案-光電性質測試系統 參考價：面議
原位解決方案-光電性質測試系統（非定量力+電+光+三維操縱）在標配TEM-STM樣品桿內集成光纖單元，配合外接光譜儀或激光器實現光電測量或者CL測量。
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統 參考價：面議
原位MEMS-TEM-STM多場測量系統（非定量力+電+光+加熱）是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個可控的多場環境...
原位解決方案-高溫力學測量系統 參考價：面議
原位解決方案-高溫力學測量系統(定量力+電+三維操縱+加熱）同時集成了力學測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000℃加熱的同時進行定量的力學測量。實現了...
原位解決方案-樣品桿預抽存儲系統 參考價：面議
原位解決方案-樣品桿預抽存儲系統PicoFemto透射電子顯微鏡樣品桿預抽存儲系統（T-station）由內置進口分子泵組、樣品桿預抽室及觸摸顯示屏組成。
原位TEM品桿 參考價：面議
原位TEM品桿，TEM冷凍樣品桿可以使被觀測樣品處于液氮低溫下，減弱了電子束輻照對樣品的損傷，同時也能研究材料的低溫結構。
TEM原位拉伸與360°水平旋轉樣樣品桿 參考價：面議
TEM原位拉伸與360°水平旋轉樣樣品桿PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對材料施加拉力，結合透射電鏡原位觀察材料結構的變化。
原位MEMS加熱電學測量系統 參考價：面議
原位MEMS加熱電學測量系統透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。
原位MEMS低溫電學測量系統 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統，是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現低溫電學測量或全溫區測量功能。
原位MEMS氣氛加熱測量系統 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環境，實現1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
原位STM-TEM力電一體測量系統 參考價：面議
原位STM-TEM力電一體測量系統PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-STM測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納...
原位STM-TEM光電一體測量系統 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
原位STM-TEM低溫電學測量系統 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
TEM原位高溫力學測量系統 參考價：面議
TEM原位高溫力學測量系統 PicoFemto透射電鏡原位高溫力學測量系統，同時集成了力學測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進行定量...
原位MEMS-STM-TEM多場測量系統 參考價：面議
MEMS-STM-TEMPicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統，該產品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡...
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