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詳細摘要：出勤管理：實現具有人臉識別功能的乘務員出勤登記、測酒、出勤試問等管理。

詳細摘要：HD-5262光纖光譜儀基于110mm光學平臺，采用對稱光路設計，為3648像素CCD探測器陣列,并且專門針對全光譜測量進行優化 ,適合各種吸收光譜,發射光譜,反射光譜測量,有優秀的信噪比和靈敏度,偏低的價格適合批量二次開發客戶和OEM客戶。

詳細摘要：全數字高斯計/特斯拉計適合要求較高精度，較高分辨率的磁場測試應用.是我們設計制造的較高精度智能化儀器，是集測試，存儲，工控，通訊為一體的自動化儀表。

詳細摘要：超聲波測厚儀是公司是新研發的智能型超聲波測厚儀，采用的高性能、低功耗微處理器技術，基于超聲波測量原理，可以測量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對材料的聲速進行測量。

詳細摘要：測量范圍：（170-960）HLD,（17-68.5）HRC,（19-651）HB,（80-976）HV,（30-100）HS,（59-85）HRA（13-100）HRB

詳細摘要：HD-5251太陽膜透過率測量儀是一款高精度太陽膜測量儀，專業用于測試太陽膜對于紫外線（200nm～380nm），可見光（380nm～760nm）和紅外線（760nm～2500nm）的透過率，同時也可用于玻璃等透明物質的測量。

詳細摘要：HD-5252太陽膜透過率測量儀是一款太陽膜測量儀，用于測試太陽膜對于紫外線（200nm～380nm），可見光（380nm～760nm）和紅外線（760nm～2500nm）的透過率，同時也可用于玻璃等透明物質的測量。

詳細摘要：HD-5253的測試原理是采用紫外光源，可見光源和紅外光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數表示

詳細摘要：HD-5254光學透過率測量儀的測試原理是采用紫外光源，可見光源和紅外光源照射被測透明物質，感應器分別探測三種光源的入射光強和透過被測透明物質后的光強，透過光強與入射光強的比值即為透過率，用百分數表示。可以同時測試透明物質的紫外，紅外，可見光的透

詳細摘要：準確度高及反應速度快

詳細摘要：HD-5256紅外功率計是寬譜線功率測量儀，主要用于測量太陽中紅外線的輻射能功率密度，即每平方米的輻射能功率。單位為：瓦/平方米 （W/m2），探測器位于儀器的前端面，使用方便快捷，測量可靠。

詳細摘要：HD-5257玻璃厚度儀專用于測量單層玻璃，夾層玻璃（中空玻璃）和柱型玻璃管等的厚度。尤其適用于普通刻度尺或卡尺不能或不易操作的測量場合，如玻璃瓶壁厚和建筑夾層玻璃窗厚度的測量。對于空氣夾層玻璃的測量，還可以同時獲得各層玻璃及中間空氣層的厚度。

詳細摘要：HD-5258光纖光譜儀基于70mm光學平臺，采用非對稱光路設計，為2048 像素 CCD 探測器陣列。光譜儀包括標準 SMA 光纖接頭口，準直鏡、聚焦鏡和衍射光柵。

詳細摘要：HD-5259光纖光譜儀基于70mm光學平臺，采用非對稱光路設計，為3000像素CCD探測器陣列。光譜儀包括標準 SMA 光纖接頭口，準直鏡、聚焦鏡和衍射光柵。

詳細摘要：HD-5260光纖光譜儀基于70mm光學平臺，采用非對稱光路設計，為4000 像素 CCD 探測器陣列。光譜儀包括標準 SMA 光纖接頭口，準直鏡、聚焦鏡和衍射光柵。提供多種不同色散系數和閃耀波長的光柵供用戶選擇，測量波長范圍 340-800nm。

詳細摘要：HD-5261光纖光譜儀基于110mm光學平臺，采用對稱光路設計，為2048像素CCD探測器陣列,并且專門針對可見光譜測量進行優化 ,適合各種吸收光譜,發射光譜,反射光譜測量,有優秀的信噪比和靈敏度,偏低的價格適合批量二次開發客戶和OEM客戶。

詳細摘要：驗證轉動慣量平移軸定理,水平垂直調節

詳細摘要：放大倍數β（0~99）；開關時間Ts（0.01μs~99.9μs）.飽和壓降

詳細摘要：電壓：0--300V±（0.25%讀數+0.25%量程）

詳細摘要：多路電阻掃描測試儀（6路）采用240*128的點陣液晶屏顯示，能對變壓器、電機、開關、繼電器等各類多路電阻進行同步測試，儀器測量范圍0.0001Ω~19.999kΩ，儀器產生高精度恒流經被測件進行四端點測量，有效地扣除了引線誤差，適合用戶作高精度測量