激光原位分析儀

    將激光誘導擊穿光譜分析技術（LIBS）和原位統計分布分析技術（OPA）*結合的，為材料成分分析，缺陷分析，涂鍍層等樣品的分析應用提供了新的技術手段及質量判據。可用于航空航天、汽車、高鐵、冶金、科研院所、質檢中心等

儀器特點:

⊙ 多元素同時分析。28 個元素通道，包含 C，P，S 元素，

線性關系良好。

⊙ 預剝蝕時間，積分時間，門控延遲時間動態可調。

⊙ 分析簡便、快速，無前處理過程，避免樣品被污染。

⊙ 分析不受樣品尺寸，狀態，導電性，難熔與否的影響。

⊙ LIBS 具有高靈敏度與高空間分辨率，非常適合涂層材料、

薄膜材料分析。

⊙ 微小燒蝕光斑可進行局部微區分析，表面微損分析，適合材料

缺陷分析。

⊙ 非接觸測量，響應迅速，分析時間短，可滿足實時分析以及在

線分析的要求。

激光原位分析儀

儀器參數:

激光光源

⊙ Continuum SureliteTM III － 10 YAG 激光器

真空光學系統

⊙ 帕邢—龍格架法，光柵焦距 750 mm

⊙ 高發光全息光柵，刻線為 2400 條 /mm

⊙ 譜線范圍：170 ~ 800 nm

⊙ 色散率：一級色散率：0.55 nm/mm

二級色散率：0.275 nm/mm

⊙ 分辨率：優于 0.01 nm

檢測系統

⊙ 光電轉換系統

⊙ 瞬態信號前端處理電路

⊙ 數字信號采集識別和解析系統

⊙ 多線程的數據采集方式

⊙ 樣品掃描定位系統

⊙ 三維工作臺

⊙ CCD 成像系統：聯合數控工作臺實現樣品的定位和觀察

⊙電源要求：220V/20A

⊙外形尺寸：1500 mm×750 mm×1600 mm（寬 × 深 × 高）

⊙重 量：毛重約 700 Kg