非接觸電阻率測試儀 非接觸厚度測試儀 非接觸方塊電阻測試儀

型號：HAD-JXNR-1

一、產品特點

1.非接觸測量硅半導體材料的電阻率

2.適合測試硅片，不損傷樣品表面。

3.采用通用PC處理數據,方便數據存儲、打印

4.軟件界面直觀友好

5.樣片校準快速、方便

二、推薦工作條件

1． 溫度：23±2℃

2． 濕度：60%~70%

3． 無強光照、無強磁場、不與高頻設備鄰近

三、參數指標

1．整機尺寸：340mm×260mm×150mm

2．電阻率量程：0.1~50Ω﹡㎝

3．誤差范圍：±5%

4．硅片厚度：適合150-600um厚度

北京恒奧德科技有限公司  

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傳  真：                      

手  機：/             

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