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貨物所在地：廣東深圳市
更新時(shí)間：2024-06-14 08:51:32
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聯(lián)訊eDH3101高溫高濕老化系統(tǒng)
聯(lián)訊儀器eDH3101是一體化高溫高濕雙85老化系統(tǒng)，一個(gè)針對(duì)第三代半導(dǎo)體芯片可靠性測(cè)試的完整的雙溫高濕雙85 Turn-key解決方案。 聯(lián)訊儀器eDH3101主要適用于GaAs和GaN射頻器件和功率器件的高溫高濕試驗(yàn)。該系統(tǒng)已經(jīng)在激光器芯片行業(yè)和第三代半導(dǎo)體兩大行業(yè)通過大量認(rèn)證，是一個(gè)可靠穩(wěn)定的系統(tǒng)。 聯(lián)訊儀器eDH3101由雙85箱體和一個(gè)測(cè)試機(jī)架通過內(nèi)部背板無(wú)縫連接而成，測(cè)試架中集成了高穩(wěn)定性多通道老化電源，UPS，電腦等。大液晶可觸控屏幕加上友好可配置的界面給客戶操作人員提供了非常簡(jiǎn)便的易用性。
聯(lián)訊eDH3101高溫高濕老化系統(tǒng)
系統(tǒng)特性 | 適用產(chǎn)品類型 | GaAs, GaN產(chǎn)品 |
使用產(chǎn)品封裝 | Chip on Subount，DIP，TO | |
系統(tǒng)參能 | 216個(gè)芯片或者器件 | |
測(cè)試參數(shù) | 監(jiān)控Vds/Vce電壓，Vgs/Vbe電壓，Ids/Ice電流，并可以掃描曲線 | |
測(cè)試板 | 與測(cè)試系統(tǒng)共用老化測(cè)試板 | |
ID識(shí)別 | 支持產(chǎn)品位置與測(cè)試版SN綁定 | |
系統(tǒng)尺寸 | 1700(H)X800(W)X820(D) | |
系統(tǒng)功耗 | 4000W | |
技術(shù)指標(biāo) | 溫度范圍 | -20C ~ 150C |
溫度分辨率 | 0.1C | |
溫度波動(dòng)性 | 0.5C (如按GB/T 5170.2-1996表示，則為+/-0.25C | |
溫度偏差 | +/-1.5C | |
溫度均勻性 | 1C (濕熱實(shí)驗(yàn)，濕度>90%RH時(shí)) 1.5C (溫度<100C時(shí)) 2C (其他條件) | |
升溫時(shí)間 | -20C -> 150C<60mins | |
降溫時(shí)間 | 20C -> -20C<45mins | |
濕度范圍 | 25~98%RH (參考溫濕度可控范圍圖，無(wú)有源濕、熱負(fù)載)
| |
濕度分辨率 | 0.1% RH | |
相對(duì)濕度偏差 | +/-2% RH (濕度>75% RH時(shí)) +/-5% RH (濕度<=75% RH時(shí)) | |
Vds/Vce電壓 | 1-200V,精度<+/-0.1%+20mV 1-100V,精度<+/-0.1%+10mV 0~15V,精度<+/-1%+5mV | |
Vgs/Vbe電壓 | -20~+20V,精度<+/-0.1%+1mV -5~+5V,精度<+/-1%+0.4mV | |
Ids/Ice電流 | 0~4000mA，精度+/-0.1%+1mA 0~100mA，精度+/-1%+0.1mA | |
Igs/Ibe | 1uA~2mA,精度+/-1%+0.5uA | |
電流電壓過沖 | 在任何情況下沒有過沖 | |
電流電壓振蕩 | 在任何情況下沒有振蕩 | |
通用指標(biāo) | 操作系統(tǒng) | Windows 10 |
軟件功能 | 可配置軟件平臺(tái)，并支持客戶二次開發(fā) | |
軟件語(yǔ)言 | C# 和 VS | |
數(shù)據(jù)庫(kù)類型 | SQL | |
系統(tǒng)供電 | 100-380V, 50/60Hz |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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