首頁>>深圳市新瑪科技有限公司>>產品展示>>其他品牌
OP4510實時數字仿真機國產仿真器平臺 參考價：面議
OP4510實時數字仿真機國產仿真器平臺，它集成了幾乎所有核心功能:高性能Intel@Xeon@E3多核處理器、具備強大計算能力和I/O管理功能的Xilinx@...
MT 6020國產實時仿真器硬件軟件提供方案 參考價：面議
MT 6020國產實時仿真器硬件軟件提供方案以FPGA作為運算核心，能以1μs級的步長模擬受控對象，為電力與能源行業的用戶創造安全便捷的實驗測試環境，幫助快速驗...
MT 6060-5工業級實時仿真器軟件解決方案 參考價：面議
MT 6060-5工業級實時仿真器軟件解決方案是遠寬能源自主研發的搭載CPU和 FPGA 的新一代工業級實時仿真器，它和遠寬能源的旗艦平臺MT 8020 采用相...
MT 8020實時仿真器國產仿真機 參考價：面議
MT 8020實時仿真器國產仿真機產品亮點CPU，8核 3.8GHz高性能FPGA，KU115多種IO組合,配置160 DI,64 AO配置8個通用IO槽位,用...
MT8060實時仿真器平臺系統 參考價：面議
MT8060實時仿真器平臺系統產品亮點：CPU，16核 3.6GHz高性能FPGA,KU115超高速IO，5M AO支持16路SFP+光纖拓展支持仿真器間高速并...
OP8666 DSP/RCP實時仿真數字控制器 參考價：面議
OP8666 DSP/RCP實時仿真數字控制器基于TI C2000 系列微控制器，支持從MATLAB Simulink、PSIM 以及嵌入式C 語言直接編程，使...
OP5707XG實時數字仿真器仿真機系統 參考價：面議
OP5707XG實時數字仿真器仿真機系統具備FPGA仿真性能以及光纖連接功能，能夠滿足很高的仿真需求。作為一套一體化解決方案，OP5707XG將最新的Intel...
OP5705XG多用途實時仿真機箱平臺 參考價：面議
OP5705XG多用途實時仿真機箱平臺新XG系列為實時仿真帶來的超凡體驗 。全新的OPAL-RT 64 位操作系統 —— OPAL-RT Linux 3，采用了...
?OP4855 XYON自動駕駛傳感器交互平臺 參考價：面議
?OP4855 XYON自動駕駛傳感器交互平臺是一套專為直接注入式攝像頭電控單元（ECU）測試所設計的高性能解決方案，旨在滿足自動駕駛系統工程師在研發過程中的嚴...
OP5000XG多功能通用系列20/25/33實時仿真器 參考價：面議
OP5000XG多功能通用系列20/25/33實時仿真器提供多種核數選擇，能夠適應不同規模和復雜度的模型，同時又能滿足客戶的預算要求。OPAL-RT的實時仿真系...
緊湊型中端實時仿真器平臺系統 參考價：面議
OP4610XG緊湊型中端實時仿真器平臺系統是OPAL-RT全新推出的XG系列緊湊型、 中端實時仿真器， 是“實時仿真器天花板"OP4510的升級版。OP461...
OP4512緊湊型入門實時仿真器仿真機測試設備 參考價：面議
OP4512緊湊型入門實時仿真器仿真機測試設備是一臺緊湊的入門級仿真器，它結合了OPAL-RT在高性能快速控制原型（RCP）和硬件在環（HIL）仿真方面的所有強...
功率半導體參數測試系統 參考價：面議
LET-SP802功率半導體參數測試系統是一款測量與分析功率半導體器件靜態參數的專用儀器，為所有類型的功率半導體器件提供靜態參數測量解決方案。LET-SP802...
半導體動態參數測試系統 參考價：面議
半導體動態參數測試系統硬件優勢:1. 采用先發布的12 bit 示波器：正確反映波形的細節，并準確計算出參數2. 采用先發布的光隔離、高CMRR探頭系統，解決S...
半導體靜態參數測試系統 參考價：面議
LET-5000半導體靜態參數測試系統是一款測量與分析功率靜態參數的專用儀器，為所有類型的功率器件提供靜態參數測量解決方案。
多通道絕緣電阻測試設備儀器 參考價：面議
多通道絕緣電阻測試設備儀器又稱數字絕緣電阻測試儀、兆歐表、智能絕緣電阻測試儀等，適于在各種電氣設備的保養、維修、試驗及檢定中作絕緣測試。絕緣電阻測試儀適于在各種...
IGCT自動測試系統 參考價：面議
IGCT自動測試系統核心是安規及導通性能測試的訂制化標準測試平臺，其核心是采用了各種儀器儀表（萬用表、內阻測試儀、安規測試儀、電源等）和繼電器板卡、配合測試機柜...
第三代功率半導體器件動態可靠性測試系統 參考價：面議
KC-3105 第三代功率半導體器件動態可靠性測試系統中可同時完成HTRB和DHTRB測試，整體架構模塊化，通訊協議、通訊接口等采用統一標準，便于后期擴展和維護...
功率半導體高精度靜態特性測試系統(實驗室) 參考價：面議
KC3110功率半導體高精度靜態特性測試系統(實驗室)，基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規級模塊的新興要求而進行的一次高標準產品開發。本系統可以在...
功率半導體高精度靜態特性測試系統(生產端) 參考價：面議
KC3111功率半導體高精度靜態特性測試系統（生產端），基于全新三代半SiC, GaN器件和模塊以及車規級模塊的新興要求而進行的一次高標準產品開發。脈沖信號源輸...
功率半導體動態參數測試系統 參考價：面議
KC3120功率半導體動態參數測試系統可針對各類型 GaN、Si基及SiC基二極管、 MOSFET、IGBT 等分立器件的各項動態參數測試，如開通時間、關斷時間...
JXA-iSP100電子探針顯微分析儀 參考價：面議
JXA-iSP100電子探針顯微分析儀JXA-iSP100在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進行觀察分析...
JXA-iHP200F場發射電子探針顯微分析儀 參考價：面議
JXA-iHP200F場發射電子探針顯微分析儀JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進...
JSM-IT210掃描電子顯微鏡 參考價：面議
JSM-IT210掃描電子顯微鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達驅動使得操作更安心和快速；而且因為裝有“Simple SEM"，只需選好微...
8