顯微鏡DM750M

顯微鏡DM750M

技術：李

公司歷史及榮譽產品
1847年  成立光學研究所
1849年  出*臺工業用顯微鏡
1872年  發明并出*臺偏光顯微鏡
1876年  出*臺熒光顯微鏡 
1881年  出*臺商用掃描電鏡
1887年  出第10,000臺
1907年  出第100,000臺
1911年  上*臺135照相機
1921年  *臺光學經緯儀
1996年  *臺立體熒光組合
2003年 美宇航局將徠卡的全自動顯微鏡隨衛星送入太空,實現地面遙控

徠卡公司在中
--在中的北京、上海、廣州、成都、香港都設有辦事處和維修中心，直接銷售自己的產品，110名員工隨時為客戶提供專業的服務
--在中設有維修網絡，具有多年維修經驗的*工程師提供快速的反應和優良的售后服務
--徠卡品牌，儀器質量好，穩定性高，公司的一些老產品如MM6超大型相顯微鏡，MEF系列倒置相顯微鏡現在仍然是很多中用戶得力的工作助手

一、儀器用途

相顯微鏡可直觀檢測屬材料的微觀組織，如原材料缺陷、偏析、初生碳化物、脫碳層、涂層膜厚及氧化膜厚度、氮化層及焊接、冷加工、鑄造、鍛造、熱處理等等不同狀態下的組織組成，從而判斷材質優劣。須進行樣品制備工作，圖像分析系統由相顯徽鏡和CCD攝像頭、計算機、打印機、圖像分析軟件組成的光學成像系統，是對材料進行定量相研究的強有力工具，也是日常相檢驗的好幫手，當產品質量出現異常或相組織處于合格與不合格之間而無法判別時，則可以借助圖像分析儀對其進行定量分析，得出準確結果，確保產品質量。圖像分析儀在相分析中的應用，拓展了相檢驗的檢測項目，促進了檢測水平的提高，對于提高檢測人員的素質也是十分有益的。

應用域：

▲鋼鐵樣品

相分析；晶粒度、夾雜物檢驗、灰鑄鐵、球墨鑄鐵檢驗、硬質合檢驗、材料涂層分析等。

▲有色屬及合樣品

合相分析；晶粒度、夾雜物檢驗。

▲各種屬材料（仿制前）解剖

材料成分、熱處理狀態。

▲表面處理鍍（涂）層檢驗

表面處理鍍（涂）層厚度、表面粗糙度、鍍（涂）層孔隙率。

▲屬焊接接頭檢驗

焊縫中心區、熱影響區、基體組織檢驗。

▲各種屬零部件斷裂失效原因分析

▲火災事故的相分析與鑒定

二、設備整體技術參數介紹

項目名稱：分析測試相顯微鏡---DM750M

（1） 光學系統：際標準的 HC無限遠復消色差色差校正及反差增強型光學系統，達到大通光率、均勻性和佳校正率。*消除雜散光等干擾因素，提供高反差、高襯度、高分辨率的銳利圖象。并使用際標準齊焦距離45mm。光學部件鍍膜還具有防霉功能，是真正意義的ISO14001環保產品，使用過程中防止長霉。

（2） 物鏡：25mm孔徑明場物鏡，擁有*的分辨率和極其*的襯度。放大倍數： 50x-1000x可選

（3） 目鏡：寬視場三目觀察，10x/20高眼點，帶曲光度目鏡，配置預裝10/100測微尺。觀察視域大而舒適。雙目觀察鏡筒為鉸鏈式，眼點高低可調。調眼距時，應能保證目鏡齊焦55mm-77mm

（4） 三目觀察筒：50/0兩檔分光觀察筒 ，可進行目鏡與顯示器的同步觀察和操作。

（5） 支架：全屬機身。三齒輪對焦裝置，粗、中、細三級同軸調焦。并配置嵌入式調焦限位裝置。

（6） 觀察方式：反反射光照明器帶有LED 切邊技術的照明

         光闌可廣泛適應明場，偏光，4段傾斜光的日常實驗室快速便捷的是用需求。

（7） 配置顏色編碼光圈輔助裝置（CCDA），使得物鏡與孔徑光圈*結合，達到優化的分辨率和對比度。

（8） 機械載物臺：配置大型手動橋式載物臺,表面陶瓷高科技涂層，內置可調節載物臺高度定位器，保護您的樣本和物鏡。承重大于5KG，移動范圍：76mmX50mm。

（10） 配500萬像素非插值工業數字攝像頭及光學接口，在計算機控制下實時采集，同步捕捉圖像、測量。

（11） 研究級科勒照明系統高強度高分辨率LED冷光源，4500K恒定色溫；保證提供足夠照明，達到統一和可恒定的佳對比度和襯度終得到高質量圖像，減少人為誤差。光源壽命35000小時以上。