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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
如圖SPL-F反射光譜測(cè)量是一個(gè)用來(lái)測(cè)量反射光譜的系統(tǒng)，系統(tǒng)由光譜儀，光源，光纖，反射探頭，反射積分球，標(biāo)準(zhǔn)反射板和樣品池支架組成。
SPL-F反射光譜測(cè)量的詳細(xì)介紹：
可以使用高性價(jià)比的USB2000+光譜儀，覆蓋紫外到可見200-850nm的范圍，或者可見到近紅外350-1000nm的范圍。或覆蓋200-1100nm的MAYA2000PRO光譜儀。如果您考慮的是近紅外波段，可以使用NirQuest近紅外光譜儀，或者FTIR紅外光譜儀。
采樣附件：
測(cè)量反射率的時(shí)候，必須考慮樣品的反射是鏡面反射還是漫反射，或者是反射率隨入射光的角度改變的樣品。
光源：
可以使用覆蓋可見和近紅外范圍的鹵鎢燈HL2000，或者紫外到近紅外的DH2000-BAL光源，如果您需要更便攜的光源，也可以使用DT-mini光源。
反射標(biāo)準(zhǔn)：
如果是漫反射，可以使用ws-1；如果是鏡面反射，可以使用STAN-SSH（高反射率）或者STAN-SSL（高反射率），更有STAN-SSH-NIST，具有NIST標(biāo)準(zhǔn)的反射率文件，可以直接調(diào)入軟件測(cè)量樣品的反射率。
