電阻率及型號測試儀 硅半導體測試儀型號：JX2008 

產品說明 
JX2008 電阻率及型號測試儀是運用四探針測量原理的多功能
綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和
軸向電阻率，適用于半導體及太陽能行業的篩選。  
 JX2008 電阻率及型號測試儀 產品特點 
1儀器采用 220V 交流電源供電。 
2  同時檢測硅半導體材料的電阻率和型號兩項指標。 
3  擁有較高的電阻率測試分辨率， zui小可到0.001歐姆.厘米。  
4  能的分辨電阻率在0.002歐姆.厘米以上的硅半導體材
料型號。 
5  獨立的 P/N 型重摻告警設置，便于工廠大規模快速選料。 
6  適中的體積和便攜性。 
7  簡單的操作，快速的測試。 
8  低廉的價格，很高的性價比。 
1.具有電阻率及型號測試功能，適合分選型號，并能夠測試并顯示出電阻率的值。 
2.電阻率分檔直觀，P/N報警門限分設。 
3.預設樣片厚度，自動修正，直讀電阻率 
4.P/N分選精度強 
5.交流電AC220V供電 
6.主機尺寸：155×120×50mm 
6.電阻率:0.001-100歐姆厘米 
7.P/N型號:0.05歐姆厘米<電阻率<100歐姆厘米