母合金電阻率測試儀型號： JH-WSP-21

硅料分選檢驗綜合儀是我公司款門為拉單晶廠和多晶鑄錠廠商硅料分選、檢驗、檢測而研發(fā)的。它可以快速準確測量硅料的電阻率。可以檢測所有類型的硅料：母合金摻雜濟電阻率檢測可以到0.0001-199.99Ω﹡㎝，及各種碎片料、米粒料、片料，塊料，頭尾料、堝底料、邊皮料等等。

產(chǎn)品點：

■電阻率測量：大屏幕清晰顯示硅料電阻率值，方便檢料快速分選

■ 電測量：本儀器采用芯片，可通過調(diào)節(jié)硅材料厚度，儀器可直接鎖定電，使測量使用更加簡便準確，本儀器可根據(jù)需要配備測試平臺， 利用測試平臺可以測試薄片電阻率

■ 四探針：次測量，顯示整電阻率值。

■ 采用了的恒源，能夠滿足寬范圍的電阻率測試要求

作條件

■ 溫度：23±2℃

■ 濕度：60%~70%

■ 無強磁場、不與頻設(shè)備鄰近

 標:

■ 阻電阻率量程：0.01~199.99Ω﹡㎝　　低阻電阻率量程：0.0001~1.9999Ω﹡㎝　

■ 阻測量度：到十分位（即到小數(shù)點后位）

   低阻測量度：到千分位（即到小數(shù)點后四位）

   注：低阻般用于測量低于0.1  0Ω﹡㎝以下硅料，如母合金，于0.1  0Ω﹡㎝般用阻測量。

使用方法：

接好電源線，將儀器接上220V交電，供電，若無電則需要檢查或更換在儀器后面的電源插頭處的保險絲，規(guī)格為1A,或檢查電源線是否插好。

電阻率測量：

低阻測試：

1，面板阻低阻切換撥動開關(guān)向低阻方向，通過按動面板綠色按鈕，使面板數(shù)顯表小數(shù)點調(diào)到0.0000狀態(tài)，測量時顯示為電阻率值，

2，校厚：四探針針頭壓住待測樣片，根據(jù)所測硅料厚度調(diào)動按鈕至所要求厚度，

按鍵調(diào)動開關(guān)調(diào)動硅材料厚度，硅材料厚度小于3.98mm按實際厚度對照厚度調(diào)節(jié)按鈕調(diào)節(jié)，如2.18就調(diào)到218，厚度大于3.98的都調(diào)到3。98，厚度調(diào)好后直接測試即可

阻測試：

1，面板撥動開關(guān)向阻方向，面板數(shù)顯表小數(shù)點調(diào)到000。00狀態(tài)，不需按動綠色按鈕。

2，校準設(shè)備：所測硅材料厚度小于3.98mm的對照家標準電阻率電修正系數(shù)表來調(diào)動儀器上方電表，根據(jù)厚度所對應的電系數(shù)來調(diào)節(jié)電表，厚度大于3.98mm的電統(tǒng)調(diào)到0.6283即可。

    測試四探針筆維護：

1般情況下，更換鋼針之類，不需要拆開探頭，只需要用拔出要更換的鋼針，再重新安裝新針，如果斷針在孔內(nèi)并且不拆開難以取出，按照以下步驟行操作：

A松開筆身尾端側(cè)面的固定小螺絲，輕輕脫下尾航空插口，保證探針頭旋轉(zhuǎn)時同步旋轉(zhuǎn)，防止扭線斷線，短接，

B輕輕擰開探針頭子，然后小心將銅片拉出，記住七片緣片與銅片之間的位置，（四片銅片每片見夾片緣片，兩邊的銅片外側(cè)各兩片），將斷針從銅片卡口座里取下即可，

C別注意定不能將銅片取下時的位置錯亂，銅片位置按照航空頭四芯1234接線綠紅黃黑的順序字排列，并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列，以免短接。

D安裝時銅片及緣片按照拆下時的排列輕輕塞探針頭子，并將探針頭子擰緊，再將尾航空頭插上，并且旋緊小螺絲，

E將針裝好，注意針頭針尾方向，尖頭為探針頭

注意事項：

1儀器操作前請您仔細閱讀使用說明書，規(guī)范操作。

2輕拿輕放，避免儀器震動，水平放置，垂直測量，

3儀器不使用時請切斷電源，連接線經(jīng)常拔下，避免灰塵入航空插引起短接等現(xiàn)象，

4探針筆測試結(jié)束，套好護套，避免人為斷針，