選型

用戶可以根據測量的需要選用不同的測厚儀，磁性測厚儀和渦測厚儀般測量的厚度適用0-5毫米，這類儀器又分探頭與主機體型，探頭與主機分離型，前者操作便捷，后者適用于測非平面的外形。更厚的致密材質材料要用聲波測厚儀來測，測量的厚度可以達到0.7-250毫米。電解法測厚儀適合測量很細的線上面電鍍的金，銀等金屬的厚度。

兩用型

儀器由德，集合了磁性測厚儀和渦測厚儀兩種儀器的能，可用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。如:

* 鋼鐵上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。

* 鋁、鎂材料上陽氧化膜的厚度。

* 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。

* 鋁、銅、金等箔帶材及紙張、塑料膜的厚度。

* 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。

儀器符合家標準GB/T4956和GB/T4957，可用于檢驗、驗收檢驗及質量監督檢驗。

儀器點

* 采用雙能內置式探頭，自動識別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應的測量方式行測量。

* 符合人體程學的雙顯示屏結構，可以在何測量位置讀取測量數據。

* 采用手機菜單式能選擇方式，操作十分簡便。

* 可設定上下限值，測量結果出或符合上下限數值時，儀器會發出相應的聲音或閃爍燈提示。

* 穩定性，通常不校正便可長期使用。

規格

量 程: 0~2000μm ,

電 源: 兩節5號電池

標準配置

常規型

對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等，在有關家和際標準中稱為覆層(coating)。

覆層厚度測量已成為業、表面程的重要環，是產品達到優等質量標準的手段。為使產品際化，我出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。

覆層厚度的測量方法主要有:楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者遵守射線防護規范。X射線法可測薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的緣覆層測厚時采用。

隨著的日益步，別是近年來引入微機后，采用磁性法和渦法的測厚儀向微型、智能、、度、實用化的方向了步。測量的分辨率已達0.1微米，度可達到1%，有了大幅度的提。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是業和科研使用zui廣泛的測厚儀器。

采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測作經濟地行。