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單晶少子壽命測試儀 少子壽命測試儀 型號：GZ-LT-2
| GZ-LT-2型單晶少子壽命測試儀是參考美 A.S.T.M 標準而的用于測量硅單晶的非平衡少數載子壽命。半導體材料的少數載子壽命測量，是半導體的常規測試項目之。本儀器靈敏度較，配備有紅外光源，可測量包括集成電路硅單晶在內的各種類型硅單晶，以及經熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。 | ||||||||||||||||||||||||
| 本儀器根據際通用方法頻光電導衰退法的原理，由穩壓電源、頻源、檢波放大器，制的InGaAsp／InP紅外光源及樣品臺共五份組成。采用印刷電路和頻接插連接。整機結構緊湊、測量數據可靠。 | ||||||||||||||||||||||||
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