兩探針電阻率測試儀/二探針電阻率測試儀/兩探針儀 (測鍺) 型號:KDK-KDY-2
KDK-KDY-2型兩探針電阻率測試儀(以下簡稱兩探針儀)是按照我家標準GB/T1551-1995及美材料與試驗協會(ASTM)的材料驗收檢測方法“兩探針法”。它適合于測量橫截面面積均勻的圓型,方型或矩形單晶錠(如硅芯、檢磷、硼棒、區熔鍺錠等)的電阻率,測樣長度與截面zui大尺寸之比應不小于3:1。由于兩探針法的測量電是從長棒兩端出,遠離電壓測量探針,因此電過金屬與半導體接觸處產生的許多副效應(如珀爾帖效應、塞貝克效應、少子注入效應等),對測量的影響較小,測量結果為橫截面的平均電阻率,兩探針法的測量度般優于四探針法。
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