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智能自動型薄膜測厚儀/智能薄膜測厚儀 型號：JSQ-CHY-U
薄膜自動測厚儀適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片等各種材料厚度的測量。
薄膜自動測厚儀征：
1、機械接觸式測量方法不受測量材料的限制，兼容ISO、ASTM 等多種測量標準
2、口件選擇，成熟經驗
3、測量、運行可靠，測量分辨率達0.1微米
4、支持手動、自動雙重測量模式
5、自動樣系統標準配置，試樣測試長度不受限制，真正實現了自動、連續測量
6、自動樣間距、測量點數、樣速度等參數可調，可地滿足用戶的統計分析需求
7、測量數據清晰大屏幕液晶顯示，試驗數據目了然
8、測量過程即時顯示zui大值、zui小值、平均值和統計偏差
9、設備形美觀大方新穎別致，符合人機程學原理
10、標準RS232通信端口配置，可接駁計算機
11、業軟件配置，數據起伏曲線、偏差圖 、圓形坐標圖等模式顯示，統計能直觀、備
13、預留了網絡傳輸接口，支持TCP/IP等協議，可實現測試數據在局域網與互聯網之間的信息共享
薄膜自動測厚儀參數：
1、測量范圍：0～2mm（0～6mm可選）
2、分 辨 率：0.1μm
3、測量壓力：17.5±1kPa(薄膜)； 標準配置
50±1kPa（紙張） 可選配置
接觸面積：50mm2(薄膜)； 標準配置
200mm2（紙張） 可選配置
4、自動樣間距：1～1000mm
5、自動樣速度：0.1～99.9mm/s
6、電 源：AC 220V 50Hz
7、外形尺寸：451（L）mm×329（B）mm×347（H）mm
8、凈 重：32kg
薄膜自動測厚儀執行標準：
GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO4593、ISO534、ISO3034、DIN53105、DIN53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS3983、BS4817
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