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磁場低溫探針臺采用MicroXact低溫磁探針臺技術,滿足電磁鐵、超導磁體或電磁鐵和超導磁體的組合測試應用。這種磁場低溫探針臺可用于低溫自旋電子學測試、自旋轉矩振蕩器測試、霍爾效應測試、量子霍爾效應測試等。
磁場低溫探針臺SCM-CF基于超導磁體的無冷劑低溫探針臺技術,可使用兩個封閉的循環制冷機或CCR（一個用于樣品冷卻，一個用于超導磁體冷卻），因此允許在磁場下進行低溫測試，而單CCR和允許超導磁體溫度和樣品溫度之間的解耦。
這種方法還允許使用具有多個一維磁場的超導磁體。有效的熱管理、隔振和成本效益使這款
磁場低溫探針臺非常適合對自旋電子和納米電子器件的測試。
磁場低溫探針臺特點
溫度范圍從10K到400K，溫度精度0.1K （可選4.2K~480K范圍）
閉循環制冷機,節省運營成本,適合無冷媒工作
適合1''尺寸樣品
滿足直流DC到67GHz測試
可配備4個微操作探針臂
可精確XYZ操作，可選配theta角操作
高純度石英提供清晰的光學視窗
高頻振動隔離
可集成電磁體產生水平磁場
磁場低溫探針臺規格參數
適合樣品尺寸：標準1英寸（最高可達50mm直徑）
熱學參數：
無制冷劑封閉循環制冷機，包括制冷頭,壓縮機,制冷器，需要氦氣接口
溫度范圍：標準10K~400K,可選4.2K~480K
溫度精度：0.1K
溫度控制樣品夾盤
溫度控制微操作臂
溫度檢測輻射屏蔽罩（可選）
真空： 標準1.0x10^-5 Torr, 可選配到-10^-6Torr
光學視窗：可選配
顯微鏡：超長工作距離顯微鏡，工組距離高達75mm @10X放大
可選探針：DC, RF, 高功率,主動式等類型
磁場產生：水平磁場，豎直磁場或多維度磁場
磁場強度： 5T@豎直磁場， 2T@水平磁場， 1T@多維磁場
可選配霍爾探針用于主動磁場控制
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