首頁>>孚光精儀（中國）有限公司>>產品展示>>光學測量系列>>光學薄膜測量
光纖連接器端面測試干涉儀 參考價：面議
光纖連接器端面測試干涉儀FiBO®200是經濟型的光纖接頭端面分析測量儀器。具有光纖接頭高分辨率3D表面計量和自動缺陷檢測功能。可在生產現場或現場快速...
光纖色散測試儀 參考價：面議
光纖色散測試儀CD500是為光纖色散測量設計的色散測量系統,具有測量PMD單模光纖中偏振色散功能,非常適光纖和光纜生產檢測。
光纖光譜衰減測量儀 參考價：面議
光纖光譜衰減測量儀SA500HD是為光纖衰減測量設計的光纖衰減測試儀器,利用DSP和固態單色儀技術測量光纖光譜損耗對波長的變化。高動態范圍允許測試現在在中發現的...
模場直徑有效面積測量系統 參考價：面議
模場直徑有效面積測量系統是pe.fiberoptics公司光纖模場直徑測試和光纖有效面積分析測量設計的MFD和Aeff測試儀器。
可調光纖法布里-珀羅濾波器 參考價：面議
可調光纖法布里-珀羅濾波器Fiber Fabry-Perot (FFP) Tunable Filter采用堅固外殼封裝和全光纖制造,具有較低損耗,無準直光學元件...
單點少子壽命測量儀 參考價：面議
單點少子壽命測量儀系統是經濟型晶圓壽命測量儀器,對不同制備階段的硅材料電學參數進行表征。
光學鍍膜檢測儀 參考價：面議
光學鍍膜檢測儀PHOTON RT UV-VIS-MWIR是為光學鍍膜分析檢測設計的鍍膜掃描分光光度計,滿足光學樣品的無人值守薄膜測量。測量基片上同一區域的透射率...
聚合物薄膜測厚儀,進口膜厚儀 參考價：面議
聚合物薄膜測厚儀用于測量polymer films(聚合物薄膜、有機薄膜、高分子薄膜）和 photoresist films （光致抗蝕劑薄膜, 光刻膠膜,光刻...
進口光學膜厚儀 參考價：面議
光學膜厚儀是一款臺式光學薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學常量折射率n和k...
薄膜厚度均勻性測量儀 參考價：面議
這款薄膜厚度均勻性測量儀采用光譜反射計技術測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數，獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數。
手持式薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀 參考價：面議
這款手持式薄膜測厚儀是便攜式光學薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等，這...
光學膜厚儀,光學薄膜測厚儀 參考價：面議
寬帶光學膜厚儀是一款臺式光學薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學常量折射率n...
光學薄膜測厚儀 參考價：面議
這款光學薄膜測厚儀采用光譜反射計技術測量薄膜反射光譜進測量薄膜厚度和測量薄膜折射率等參數，非常適合日常已知膜系膜堆測量。
光伏太陽能光譜橢偏儀 參考價：面議
這款光伏太陽能光譜橢偏儀是專業為光伏太陽能領域的薄膜測量而開的手動光伏橢偏儀，這款為光伏薄膜測量研究提供便利，具有實時測量薄膜厚度和薄膜厚度繪圖的*功能。它采用...
反射式光譜橢偏儀 參考價：面議
這款反射式光譜橢偏儀MSP具有250-1000nm的波長范圍，可與顯微分光光度計聯合使用，測量極小斑點的薄膜厚度和折射率，可廣泛用于MEMS，半導體晶圓等領域,...
自動光譜橢偏儀 參考價：面議
這款自動光譜橢偏儀M300是一種自動變角光譜橢偏儀和深紫外光譜橢偏儀,具有250-1100nm的波長范圍，并具有自動改變入射角的功能。自動spectroscop...
薄膜粘附力熱學測試儀 參考價：面議
這款薄膜粘附力熱學測試儀是為薄膜厚度測量,薄膜粘附力測量和薄膜熱導率測量設計的薄膜特性分析測試儀器。采用光聲顯微鏡和異步光學采樣ASOPS技術實現高精度薄膜力學...
激光全息應力場分析系統 參考價：面議
二維平面形變應力測量系統采用良好的激光全息相機技術測量表面形變3D矢量場和二維應力分布,是良好的激光全息應變應力測試系統,具有超高靈敏度。它是以非接觸式測量方式...
9