TopMap Metro.Lab Polytec 高精度平面度測量儀
| 參考價 | ￥ 1 |
| 訂貨量 | ≥1套 |
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 廣州萬智光學技術有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 TopMap Metro.Lab
- 產地 德國
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/11/29 11:52:30
- 訪問次數 76
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| 產地類別 | 進口 | 產品種類 | 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 100萬-200萬 | 應用領域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
Polytec 的 TopMap Metro.Lab 是一種高精度白光干涉儀（相干掃描干涉儀），具有大的垂直范圍和納米分辨率。這意味著 Metro.Lab 外形測量系統非常適合非接觸式測量大面積表面和結構，甚至是柔軟和精密材料的平面度、臺階高度和平行度。
作為一個完整的測量站，TopMap Metro.Lab 是您想要測量幾乎所有表面上的大面積外形的解決方案。即使在困難條件下，70mm 的大垂直測量范圍也允許您使用亞納米分辨率進行測量。
由于 TopMap Metro.Lab 物超所值，無論是用于計量實驗室或是靠近生產現場的地方，都非常具有吸引力。它可以處理許多您以前使用觸覺系統進行處理的任務。與所有 TopMap 系統一樣，開放式的軟件架構還允許您編制常規任務或設置自己的用戶界面。
由于TopMap Metro.Lab具性價比，因此在從計量實驗室到接近生產的所有地點使用時都特別有吸引力。TopMap Metro.Lab允許比傳統的觸覺測量法更全面的表面分析。與所有TopMap系統一樣，開放的軟件架構也使您能夠對常規任務進行編程或設置您自己的用戶界面。
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