儀器簡介：

透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機械作用等原因，其內部會產生內應力，引起雙折射，晶體物質本身具有雙折射的光學特征。WYL-4應力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學補償原理，通過對樣品的光程差的定量測定，確定樣品應力雙折射的大小。本儀器能測定光學波片的光程差、確定光學玻璃的應力級別，是光學儀器制造業*的儀器，也是研究晶體礦物質的重要工具，廣泛應用在國防、建材、地質礦產、材料科學方面，是各大專院校特別理想的教學實驗設備。

儀器特點:

l直讀納米級光程差，無須計算。

l雙分視場零位檢測，靈敏度高。

l樣品工作臺45度自動定位。

l體積小巧，結構緊揍。

l操作方便，可靠實。

技術指標：

l單色光波長：589.44nm

l光程差測定范圍：（0～590）nm

l分度盤分度值：5 nm

l零位誤差：±2nm

l測量重復性：1nm

l被測試樣尺寸：寬度≤440mm，高度≤240 mm，長度不限