常見型號及介紹

1. Gaertner Scientific LEO-950 橢偏儀

• 用途：適用于實驗室和生產環境中的薄膜厚度和光學常數測量。
• 特點：
• 高精度：采用先進的光學設計和數據處理算法，提供高精度的測量結果。
• 寬波長范圍：支持多種波長光源，可測量不同材料的光學特性。
• 自動化操作：具備自動化測量功能，可減少人為誤差，提高測量效率。
• 多樣化分析：支持多種分析模式，包括單波長、多波長和光譜分析。
• 易于使用：用戶友好的界面設計，方便操作和數據處理。

2. Gaertner Scientific LEO-930 橢偏儀

• 用途：適用于薄膜厚度和光學常數的常規測量，適合實驗室和工業生產環境。
• 特點：
• 穩定性：采用穩定的光學平臺和高精度的檢測系統，確保測量結果的可靠性。
• 多波長選擇：支持多種波長光源，滿足不同材料的測量需求。
• 快速測量：優化的測量流程，縮短測量時間，提高工作效率。
• 數據處理：內置數據分析軟件，提供實時數據處理和結果分析。
• 便攜性：緊湊的設計，便于在不同場所使用。

3. Gaertner Scientific LEO-920 橢偏儀

• 用途：適用于基礎研究和教學環境，提供薄膜厚度和光學常數的基本測量功能。
• 特點：
• 經濟實惠：成本效益高，適合預算有限的實驗室和教學機構。
• 基本功能：提供基本的橢偏測量功能，滿足常規實驗需求。
• 易于操作：簡潔的操作界面，便于用戶快速上手。
• 數據輸出：支持數據導出功能，方便進一步分析和報告生成。
• 維護簡便：結構簡單，易于維護和保養。

Gaertner Scientific 品牌介紹

Gaertner Scientific 與 Apell 品牌

應用領域

• 材料科學：研究材料的光學特性和表面性質。
• 半導體制造：測量半導體薄膜的厚度和光學常數。
• 光學涂層：評估光學涂層的質量和性能。
• 薄膜技術：開發和優化薄膜材料。
• 教育和研究：支持高校和科研機構的實驗和教學。

選型建議

1. 確定需求：明確測量需求，包括測量范圍、精度要求、波長范圍等。
2. 預算考慮：根據預算選擇合適的型號，經濟型、標準型和高的端型各有側重。
3. 技術支持：選擇提供良好技術支持和售后服務的供應商。
4. 品牌信譽：優先選擇知的名的品的牌，確保產品的質量和可靠性。