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千野（CHINO）光纖式紅外線紅外溫度儀（以下簡稱“本儀器”）是由株式會社千野在累積七十余年輻射測溫經驗基礎上，面向現代工業高溫、強電磁、防爆及空間受限等復雜工況而研制的非接觸式溫度測量系統。其產品架構、技術特征與應用規范，可系統闡述如下：
一、產品定義與系列歸屬
本儀器屬于千野 IR-FA 系列“光纖透射式輻射溫度計”（Fiber Optic Radiation Thermometer）。它通過前端小型光學探頭（φ10 mm 左右）采集被測對象在 0.85 μm～1.55 μm 波段內的紅外輻射能量，經低損耗石英光纖傳導至主機內的光電檢測元件（Si 或 InGaAs）完成光電轉換、線性化及溫度計算，最終以模擬量、數字量或現場總線形式對外輸出實測溫度值。
依據檢測元件及波長的不同，IR-FA 系列細分為：
• IR-FAS：400 ℃～3000 ℃，Si 元件，0.9 μm，響應 10 ms；
• IR-FAI：150 ℃～1600 ℃，InGaAs 元件，1.55 μm，響應 10 ms；
• IR-FAQ：300 ℃～3000 ℃，Si/InGaAs 復合，0.85–1.55 μm，響應 40 ms。
本儀器屬于千野 IR-FA 系列“光纖透射式輻射溫度計”（Fiber Optic Radiation Thermometer）。它通過前端小型光學探頭（φ10 mm 左右）采集被測對象在 0.85 μm～1.55 μm 波段內的紅外輻射能量，經低損耗石英光纖傳導至主機內的光電檢測元件（Si 或 InGaAs）完成光電轉換、線性化及溫度計算，最終以模擬量、數字量或現場總線形式對外輸出實測溫度值。
依據檢測元件及波長的不同，IR-FA 系列細分為：
• IR-FAS：400 ℃～3000 ℃，Si 元件，0.9 μm，響應 10 ms；
• IR-FAI：150 ℃～1600 ℃，InGaAs 元件，1.55 μm，響應 10 ms；
• IR-FAQ：300 ℃～3000 ℃，Si/InGaAs 復合，0.85–1.55 μm，響應 40 ms。
二、核心架構與工作原理
- 光學探頭：采用耐溫 150 ℃ 的不銹鋼外殼，內置微型透鏡組，數值孔徑經優化以兼顧集光效率與景深；可選激光瞄準附件，實現測量點可視化。
- 光纖組件：使用多模石英光纖，標準長度 3 m（可擴展至 20 m），護套為金屬波紋管或 PTFE 編織層，具備耐彎折、耐腐蝕及 EMI 免疫特性。
- 主機單元：盒式結構，內部包含帶溫控的檢測器、24-bit ADC、DSP 及通信接口。主機環境工作溫度 0～50 ℃，通過空氣自然對流或附加散熱片即可長期穩定運行。
- 信號處理：采用“金屬-碳共晶定點溯源”算法，對探測器非線性、發射率變化及光纖衰減進行實時補償，保證全量程準確度 ≤ ±0.5 %·rdg 或 ±2 ℃（取大者）
三、技術特點
- 無需水冷：光纖及探頭在 150 ℃ 環境可直接連續工作，省去傳統紅外測溫必須配置的水冷套或渦流制冷器，顯著降低系統復雜度與能耗。
- 電磁免疫與防爆：光纖為非導電介質，可在高頻感應加熱、強磁場或 Zone2 防爆區安全使用；主機可置于安全區，滿足 IECEx 及 ATEX 認證要求。
- 狹小空間適應性：探頭外徑最小可達 φ6 mm，配合柔性光纖，可深入爐壁小孔、晶體生長腔體或拉絲模內部進行精準測溫。
- 高速響應：最快響應時間 10 ms，滿足快速熱處理、激光焊接、粉末燒結等瞬態過程的溫度閉環控制需求。
- 多輸出接口：標配 4–20 mA / 0–10 V 模擬量、RS-485（Modbus-RTU）及 Ethernet（Modbus-TCP），可無縫接入 DCS、PLC 或 MES 系統。
四、典型應用領域
• 鋼鐵冶金：高爐風口、連鑄坯表面、熱軋帶鋼；
• 有色金屬：鋁電解槽、銅冶煉爐、鈦合金真空熔煉；
• 半導體與光伏：Czochralski 單晶爐、MOCVD 反應腔、PECVD 石墨舟；
• 玻璃與陶瓷：浮法錫槽、鋼化爐、光纖預制棒拉絲；
• 科研實驗：等離子體、激光材料加工、燃燒診斷。
• 鋼鐵冶金：高爐風口、連鑄坯表面、熱軋帶鋼；
• 有色金屬：鋁電解槽、銅冶煉爐、鈦合金真空熔煉；
• 半導體與光伏：Czochralski 單晶爐、MOCVD 反應腔、PECVD 石墨舟；
• 玻璃與陶瓷：浮法錫槽、鋼化爐、光纖預制棒拉絲；
• 科研實驗：等離子體、激光材料加工、燃燒診斷。
五、安裝與使用規范
- 瞄準：利用激光瞄準附件或取景器，使探頭光軸垂直于被測表面；若無法垂直，需按 cosθ 修正發射率設置。
- 發射率設定：儀器支持 0.10～1.00 可調，可通過現場比對（接觸式或金點法）標定，亦可調用內置材料數據庫。
- 光纖布線：彎曲半徑 ≥ 50 mm，避免銳角彎折；穿越高溫區時需外加陶瓷纖維套管。
- 維護：探頭窗口每月用無水乙醇擦拭一次；主機濾網半年清潔一次；校準周期建議 12 個月一次，可在千野授權實驗室完成。
六、符合標準與質量保證
本儀器設計、制造及檢驗符合以下標準：
• IEC 60529 IP65（主機）；
• IEC 61326-1 EMC 工業級；
• IECEx Ex ia IIC T4 Ga（防爆型）；
• JJG 856-2015《工作用輻射溫度計》國家計量檢定規程。
千野通過 ISO 9001 與 ISO/IEC 17025 質量管理體系，對每臺儀器實施溫漂、長期穩定性及沖擊振動測試，出廠附帶可追溯至國家基準的校準證書。
本儀器設計、制造及檢驗符合以下標準：
• IEC 60529 IP65（主機）；
• IEC 61326-1 EMC 工業級；
• IECEx Ex ia IIC T4 Ga（防爆型）；
• JJG 856-2015《工作用輻射溫度計》國家計量檢定規程。
千野通過 ISO 9001 與 ISO/IEC 17025 質量管理體系，對每臺儀器實施溫漂、長期穩定性及沖擊振動測試，出廠附帶可追溯至國家基準的校準證書。
綜上所述，千野光纖式紅外線紅外溫度儀通過“前端光學探頭—石英光纖—主機信號處理”的模塊化設計，實現了在高溫、強電磁干擾、防爆及空間受限等環境下的高精度、高響應、免維護的非接觸溫度測量，是現代工業過程控制與科研實驗溫度監測的理想解決方案。
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